[发明专利]一种材料膨胀系数的测量系统

摘要

本发明涉及一种材料膨胀系数的测量系统，其特征在于：它包括两固体微片激光回馈干涉仪光学系统和一电测及电控系统，两固体微片激光回馈干涉仪光学系统之间设置一升温炉，升温炉包括一炉膛，炉膛内部设置一腔体，腔体两对侧分别向外对称设置一穿孔，每一穿孔外端部固定设置一穿孔封装结构，每一穿孔封装结构外侧通过一窗片夹持座固定一窗片，腔体内还设置有一能够放置待测样品的样品台装置，炉膛内壁固定悬挂设置有加热元件和温度传感器。本发明是一种具有完全非接触、精度高、测量温度范围大、抗震性高、特别适合较低表面反射材料的线膨胀系数测量系统，本发明能广泛应用于各种材料的膨胀系数的较大温度范围、高精度测量。

主权项

一种材料膨胀系数的测量系统，其特征在于：它包括第一、第二固体微片激光回馈干涉仪光学系统和一电测及电控系统，所述第一、第二固体微片激光回馈干涉仪光学系统之间设置一升温炉；所述升温炉包括一炉膛，所述炉膛内部设置一腔体，所述腔体两对侧分别向外对称设置一穿孔，每一所述穿孔外端部固定设置一穿孔封装结构，每一所述穿孔封装结构外端部设置一窗片，所述腔体内还设置有一能够放置待测样品的样品台装置，所述炉膛内还固定设置有加热元件和温度传感器；所述电测及电控系统包括一计算机和一升温炉温度采集显示与控制系统，所述计算机内设置一高温控制模块和干涉系统测量模块；所述第一固体激光回馈干涉仪光学系统的光电信号处理系统将获得的第一参考回馈光和第一测量回馈光的外腔相位变化量发送到所述干涉系统测量模块，同时所述第二固体微片激光回馈干涉仪光学系统的光电信号处理系统将获得的第二参考回馈光和第二测量回馈光的外腔相位变化量发送到所述干涉系统测量模块，所述干涉系统测量模块根据外腔相位变化量计算得到待测样品的总膨胀量；所述高温控制模块通过所述升温炉温度采集显示与控制系统对所述加热元件的温度变化进行控制，同时所述升温炉温度采集显示与控制系统通过所述温度传感器实时采集所述炉膛内的温度值并将其发送到所述干涉系统测量模块，所述干涉系统测量模块根据待测样品的总膨胀量和所述炉膛内的温度值计算得出待测样品在不同温度范围内的平均线膨胀系数。