[发明专利]检查装置以及检查系统在审
| 申请号： | 201410460945.1 | 申请日： | 2014-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN104459806A | 公开（公告）日： | 2015-03-25 |
| 发明（设计）人： | 加屋野博幸;平冈俊郎 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝 |
| 主分类号： | G01V3/12 | 分类号： | G01V3/12;G01N22/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 王成坤;胡建新 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供小型、高增益且高指向性的天线。实施方式的检查装置的特征在于，发送天线装置和接收天线装置分别相对于被测量物对置，所述发送天线装置与发送微波的具有发送装置的发送部连接，所述接收天线装置与具有接收装置的接收部连接，接收天线装置接收由发送天线装置发送并透射了被测量物的微波、相位延迟了的微波和在被测量物中蔓延的微波中的至少某一个微波，接收部是指向性天线。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 装置 以及 系统 | ||
【主权项】：
一种检查装置，其特征在于，发送天线装置和接收天线装置分别相对于被测量物对置，所述发送天线装置与发送微波的具有发送装置的发送部连接，所述接收天线装置与具有接收装置的接收部连接，所述接收天线装置接收由所述发送天线装置发送并透射了所述被测量物的微波、相位延迟了的微波和在所述被测量物中蔓延的微波中的至少某一个微波，所述接收部是指向性天线。
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