[发明专利]一种星体表面尘埃累积质量监测方法有效

专利信息
申请号: 201410449520.0 申请日: 2014-09-05
公开(公告)号: CN104280105A 公开(公告)日: 2015-01-14
发明(设计)人: 庄建宏;姚日剑;王鹢;邹昕;陈丽平;颜则东;郭兴 申请(专利权)人: 兰州空间技术物理研究所
主分类号: G01G17/04 分类号: G01G17/04;G01G9/00
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 付雷杰;杨志兵
地址: 730000 甘*** 国省代码: 甘肃;62
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摘要: 发明公开了一种星体表面尘埃累积质量监测方法。使用本发明能够简单、有效地测量出星体表面的尘埃累积量。本发明首先设计了一个尘埃监测仪,包括光源、光敏感器、盖板和用于改变光路的镜面,利用遮光效应,通过测量光敏感器的信号获得镜面上沉积的尘埃量,尘埃监测仪结构简单、功耗低、体积小、受温度等环境因素影响小,并且自带光源,能够不受太阳光线的影响,在夜晚也能继续对尘埃质量进行监测。相对于传统方法的光学探测(激光粒子计数器)、碰撞探测器、石英晶体质量沉积探测等,本方法更为简单易行。
搜索关键词: 一种 星体 表面 尘埃 累积 质量 监测 方法
【主权项】:
一种星体表面尘埃累积质量监测方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1,设计尘埃监测仪;尘埃监测仪包括光源(1)、光敏感器(2)、盖板(3)和用于改变光路的镜面(4),尘埃监测仪探头设有向上开口的空腔,防尘盖设置在空腔上方,镜面设置在腔底,光源位于空腔侧面,光敏感器位于光路的反射和/或折射光路上;步骤2,在地面上采用尘埃监测仪进行尘埃质量‑光敏感信号曲线标定;步骤2.1,将步骤1的尘埃监测仪放置在真空环境中,并位于扬尘装置的下方;步骤2.2,打开盖板(3),并启动扬尘装置模拟星体表面尘埃沉降,在镜面上均匀沉积尘埃,然后关闭盖板,开启光源、光敏感器,测量当前光敏感器信号相比于无尘情况下的信号变化,测量镜面上沉积的尘埃质量;步骤2.3,重复步骤2.2,得到镜面上沉积尘埃质量与光敏感器信号变化量之间的关系,并进行曲线拟合,获得标定曲线;步骤3,进行星体测量;步骤3.1,探测器携带尘埃监测仪着陆星体表面,展开尘埃监测仪,调节其镜面至水平位置;步骤3.2,尘埃监测仪开机,进行自检和测量光敏感器信号的初值;步骤3.3,打开盖板,在自然环境下沉积尘埃;一定时间后,闭合盖板,测量光敏感器信号相对于所述初值的变化量,代入步骤2获得的标定曲线中得到尘埃累积质量;步骤3.4,重复步骤3.3直至任务结束。
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