[发明专利]一种基于欠采样技术锁相环长周期抖动片上测量电路有效
| 申请号： | 201410422608.3 | 申请日： | 2014-08-25 |
| 公开（公告）号： | CN104158542B | 公开（公告）日： | 2017-04-05 |
| 发明（设计）人： | 许浩博;蔡志匡;徐亮;任力争;杨军 | 申请（专利权）人： | 东南大学 |
| 主分类号： | H03L7/18 | 分类号： | H03L7/18;G01R31/28 |
| 代理公司： | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙)32204 | 代理人： | 柏尚春 |
| 地址： | 210018 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于欠采样技术锁相环长周期抖动片上测量电路，包括欠采样实现电路，控制电路，移位寄存器A、移位寄存器B和CDF合成电路，同时本发明还提出了基于周期对齐欠采样后处理技术，该技术可以用于测量锁相环长周期抖动。本发明提出的锁相环长周期抖动片上测量电路具有测量精度高，实现方法简单等优点，并弥补了现有基于欠采样技术抖动测量电路无法测量长周期抖动的缺点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 采样 技术 锁相环长 周期 抖动 测量 电路 | ||
【主权项】：
一种基于欠采样技术锁相环长周期抖动片上测量电路，其特征在于：包括欠采样实现电路，控制电路，移位寄存器A、二选一MUX、移位寄存器B和CDF合成电路；锁相环输出信号Fd和采样信号Fs接入至欠采样实现电路中，采样信号Fs同时为系统时钟，由欠采样实现电路输出的信号Qout分别接入控制电路、移位寄存器A和二选一MUX；控制电路的输出信号Select为二选一MUX的选通信号，控制电路的输出信号CDF_en_a和CDF_en_b分别接入移位寄存器A和移位寄存器B，分别作为移位寄存器A和移位寄存器B输出信号Shift_a和Shift_b的触发控制信号；二选一MUX的输出信号接入至移位寄存器B中，移位寄存器A和移位寄存器B中的输出信号Shift_a和Shift_b的每一位都接入CDF合成电路，CDF合成电路的测量输出结果通过信号Shift_out输出。
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