[发明专利]一种基于欠采样技术锁相环长周期抖动片上测量电路

权利要求书

1.一种基于欠采样技术锁相环长周期抖动片上测量电路，其特征在于：包括欠采样实现电路、控制电路、移位寄存器A、二选一MUX、移位寄存器B和CDF合成电路；

锁相环输出信号F_d和采样信号F_s接入至欠采样实现电路中，采样信号F_s同时为系统时钟，由欠采样实现电路输出的信号Q_out分别接入控制电路、移位寄存器A和二选一MUX；

控制电路的输出信号Select为二选一MUX的选通信号，控制电路的输出信号CDF_en_a和CDF_en_b分别接入移位寄存器A和移位寄存器B，分别作为移位寄存器A和移位寄存器B输出信号Shift_a和Shift_b的触发控制信号；

二选一MUX的输出信号接入至移位寄存器B中，移位寄存器A和移位寄存器B中的每一位都接入CDF合成电路，CDF合成电路的测量输出结果通过信号Shift_out输出。

2.如权利要求1所述的基于欠采样技术锁相环长周期抖动片上测量电路，其特征在于：所述移位寄存器A和移位寄存器B的位数相等，且均可以覆盖欠采样实现电路的输出信号Q_out边沿与理想输出信号边沿之间出现的最大偏差。

3.如权利要求2所述的基于欠采样技术锁相环长周期抖动片上测量电路，其特征在于：所述移位寄存器A和移位寄存器B中的每个触发器的输出端都接入CDF合成电路。

4.如权利要求1-3任意一项所述的基于欠采样技术锁相环长周期抖动片上测量电路，其特征在于：通过周期对齐欠采样后处理技术得到被测信号长周期抖动。

5.如权利要求4所述的基于欠采样技术锁相环长周期抖动片上测量电路，其特征在于：周期对齐欠采样后处理具体如下：被测信号中的抖动，在欠采样实现电路输出的Q_out信号中会产生不稳定跳变位；同时由于长周期抖动的影响，此时Q_out信号与无抖动信号相比会有偏差；将Q_out信号边沿区域按照其周期T_Q对齐后，在边沿区域内测量出Q_out信号与理想信号之间的偏移，即抖动。

6.如权利要求5所述的基于欠采样技术锁相环长周期抖动片上测量电路，其特征在于：实现周期对齐的方法为：假设Q_out周期内包括(2P+N)个采样时钟周期，当采样输出信号Q_out第一个周期内第一个“0-1”跳变点出现时，记为时刻t₁，将其接入移位寄存器B，由移位寄存器B记录Q_out信号在第一个周期内所有的不稳定位；当移位寄存器B记录位数满移位寄存器B的P位后，CDF合成电路使能信号CDF_en_a和CDF_en_b置为“1”，在下个周期置为“0”，并开始对周期数值计数，当计数满N周期时，Q_out信号接入移位寄存器A并记录之后2P位逻辑值，当记录满2P位后，CDF_en_a和CDF_en_b置为“1”并开始记录周期数，如此循环往复。