[发明专利]压接式IGBT的正面金属工艺有效
申请号: | 201410418398.0 | 申请日: | 2014-08-22 |
公开(公告)号: | CN104241125B | 公开(公告)日: | 2017-05-24 |
发明(设计)人: | 刘建华;李雪萍 | 申请(专利权)人: | 上海先进半导体制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/331 | 分类号: | H01L21/331;H01L21/28 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司31100 | 代理人: | 徐洁晶 |
地址: | 200233 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种压接式IGBT的正面金属工艺,包括步骤在层间介质层上淀积第一正面金属层;对第一正面金属层作湿法刻蚀,在层间介质层上形成上宽下窄的第一凹槽;在当前结构的所有表面上淀积阻挡层,并将需要形成厚金属的区域处的阻挡层窗口打开;对窗口打开后暴露出的第一正面金属层表面作淀积前的预处理,去除掉氧化层;在当前结构的所有表面上淀积第二正面金属层;对第二正面金属层作湿法刻蚀,在其中形成侧壁倾斜、导向第一凹槽的上宽下窄的第二凹槽;对第二凹槽再作干法刻蚀,刻穿第二正面金属层并清空第一凹槽中的金属;第一凹槽上缘处包覆的阻挡层上方形成有其底部为一定宽度的保护斜坡。本发明实现了不同布线区域的正面金属厚薄两种厚度。 | ||
搜索关键词: | 压接式 igbt 正面 金属工艺 | ||
【主权项】:
一种压接式IGBT的正面金属工艺,包括步骤:A.在完成所述压接式IGBT的前道工艺后,在层间介质层(101)上淀积第一正面金属层(102),所述第一正面金属层(102)具有第一厚度;所述层间介质层(101)上开有一个或多个接触通孔(103),所述第一正面金属层(102)的金属也向下填入所述接触通孔(103)中;B.在所述第一正面金属层(102)上旋涂第一光刻胶层(102a)作为掩模层,光刻后对所述第一正面金属层(102)进行湿法刻蚀,在所述层间介质层(101)上形成上宽下窄的一个或多个第一凹槽(104);C.在当前结构的所有表面上淀积阻挡层(105),并将后续需要形成厚金属的区域处的所述阻挡层(105)窗口打开,所述第一凹槽(104)的底部、侧壁和上缘仍包覆有所述阻挡层(105);D.对窗口打开后暴露出的所述第一正面金属层(102)表面进行淀积前的预处理,去除掉所述第一正面金属层(102)表面上的氧化层;E.在当前结构的所有表面上淀积第二正面金属层(106),所述第二正面金属层(106)具有第二厚度,所述第二正面金属层(106)的金属也向下填入所述第一凹槽(104)和所述窗口中;F.在所述第二正面金属层(106)上旋涂第二光刻胶层(106a)作为掩模层,光刻后对所述第二正面金属层(106)进行湿法刻蚀,在所述第二正面金属层(106)中形成侧壁倾斜、导向所述第一凹槽(104)的上宽下窄的一个或多个第二凹槽(108),所述第二凹槽(108)的底部停止于所述第二正面金属层(106)中;G.继续以所述第二光刻胶层(106a)作为掩模层,对所述第二凹槽(108)再进行干法刻蚀,直至刻穿所述第二正面金属层(106)并清空所述第一凹槽(104)中的金属;所述第一凹槽(104)上缘处包覆的所述阻挡层(105)上方形成有其底部具有一定宽度的保护斜坡(109)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海先进半导体制造股份有限公司,未经上海先进半导体制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410418398.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造