[发明专利]利用四甲基氢氧化铵溶液的太阳能电池背面抛光工艺无效

专利信息
申请号: 201410399282.7 申请日: 2014-08-14
公开(公告)号: CN104143591A 公开(公告)日: 2014-11-12
发明(设计)人: 杜正兴;陈烈军;丁志强 申请(专利权)人: 无锡尚品太阳能电力科技有限公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;C30B33/10
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人: 殷红梅;张涛
地址: 214181 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种利用四甲基氢氧化铵溶液的太阳能电池背面抛光工艺,其包括如下步骤:a、提供所需的晶硅电池片,所述晶硅电池片的正面具有阻挡保护层;b、将上述晶硅电池片的背面放置浸泡在四甲基氢氧化铵溶液中,以对晶硅电池片的背面进行所需的去结抛光,并通过阻挡保护层对晶硅电池片的正面进行保护;四甲基氢氧化铵溶液的浓度为2%~5%,温度为68℃~72℃,晶硅电池片浸泡在四甲基氢氧化铵溶液的时间为180s~250s;c、利用等离子水对晶硅电池片进行清洗。本发明工艺步骤简单,能大大降低太阳能电池的生产成本,提高制备太阳能电池片的开路电压,减少太阳能电池片的边缘缺陷,提高太阳能电池的转换效率,安全可靠。
搜索关键词: 利用 甲基 氢氧化铵 溶液 太阳能电池 背面 抛光 工艺
【主权项】:
一种利用四甲基氢氧化铵溶液的太阳能电池背面抛光工艺,其特征是,所述太阳能电池背面抛光工艺包括如下步骤:(a)、提供所需的晶硅电池片,所述晶硅电池片的正面具有阻挡保护层;(b)、将上述晶硅电池片的背面放置浸泡在四甲基氢氧化铵溶液中,以对晶硅电池片的背面进行所需的去结抛光,并通过阻挡保护层对晶硅电池片的正面进行保护;四甲基氢氧化铵溶液的浓度为2%~5%,温度为68℃~72℃,晶硅电池片浸泡在四甲基氢氧化铵溶液的时间为180s~250s;(c)、利用等离子水对晶硅电池片进行清洗。
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