[发明专利]RF-LDMOS自对准的漏端场板结构及制作方法在审

专利信息
申请号: 201410395633.7 申请日: 2014-08-13
公开(公告)号: CN104183632A 公开(公告)日: 2014-12-03
发明(设计)人: 刘正东;曾大杰;张耀辉 申请(专利权)人: 昆山华太电子技术有限公司
主分类号: H01L29/417 分类号: H01L29/417;H01L21/336;H01L21/28
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人: 董建林
地址: 215300 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种RF-LDMOS自对准的漏端场板结构,包括电极层(1)、衬底(2)、外延层(3)、源极-衬底连接层(4)、漂移区(5)、固定电位区(7)、源极(8)、沟道(9)、漏极(15)、绝缘层(10)、栅极(20)、栅极金属硅化物(21)、源极-沟道连接区(22),还包括SiO2层(23)、非晶硅(12)和金属硅化物(17);非晶硅(12)包括横向延伸结构和纵向延伸结构,纵向延伸结构与漂移区(5)相接触,横向延伸结构设置在SiO2层(23)上;金属硅化物(17)设置在非晶硅(12)上。本发明能够提高器件的击穿电压,同时降低热载流子效应,减小静态电流的漂移,显著降低Cds电容。
搜索关键词: rf ldmos 对准 漏端场 板结 制作方法
【主权项】:
一种RF‑LDMOS自对准的漏端场板结构,包括电极层(1)、衬底(2)、外延层(3)、源极‑衬底连接层(4)、漂移区(5)、固定电位区(7)、源极(8)、沟道(9)、漏极(15)、绝缘层(10)、栅极(20)、栅极金属硅化物(21)、源极‑沟道连接区(22),其特征在于,还包括SiO2层(23)、非晶硅(12)和金属硅化物(17);衬底(2)设置在电极层(1)上,所述外延层(3)和源极‑衬底连接层(4)设置在衬底(2)上,所述漏极(15)设置在外延层(3)上,固定电位区(7)和沟道(9)设置在源极‑衬底连接层(4)上,源极(8)设置在固定电位区(7)上,所述漂移区(5)设置外延层(3)上,并与所述沟道(9)相连接,沟道(9)两侧分别连接源极(8)和漂移区(5);所述源极‑衬底连接层(4)连接源极(8)和衬底(2);源极‑沟道连接区(22)设置在固定电位区(7)上,绝缘层(10)覆盖在漂移区(5)、沟道(9)和源极(8)上,栅极(20)设置在绝缘层(10)上,栅极金属硅化物(21)设置在所述栅极(20)上,非晶硅(12)设置在漂移区(5)上,所述栅极(20)与所述非晶硅(12)之间设置有SiO2层(23);所述源极‑沟道连接区(22)连接源极(8)和固定电位区(7),固定电位区(7)与沟道(9)相连接;所述非晶硅(12)包括横向延伸结构和纵向延伸结构,所述纵向延伸结构与漂移区(5)相接触,所述横向延伸结构设置在所述SiO2层(23)上;所述金属硅化物(17)设置在所述非晶硅(12)上,所述金属硅化物(17)通过非晶硅(12)与漏极(15)相连。
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