[发明专利]电阻式触摸屏的校准方法

摘要

本发明提供了一种电阻式触摸屏的校准方法，包括步骤在一批使用电阻式触摸屏的电子设备产品中选取m台电子设备，对每台取出的电子设备的电阻式触摸屏的进行测试，以获取该电子设备的校准参数，基准点C的物理坐标(Xc，Yc)，基准点C的逻辑坐标(XLc，YLc)，X轴偏差系数kx以及Y轴偏差系数ky；取m台电子设备的X轴偏差系数kx，以及Y轴偏差系数ky，分别得到二者的平均值以及将基准点C的物理坐标(Xc，Yc)，基准点C的逻辑坐标(XLc，YLc)，X轴偏差系数平均值以及Y轴偏差系数平均值存入每一台该批电子设备中。

主权项

一种电阻式触摸屏的校准方法，包括步骤：在一批使用电阻式触摸屏的电子设备产品中选取m台电子设备，其中m≥1；对每台取出的电子设备的电阻式触摸屏的进行测试，以获取该电子设备的校准参数，所述校准参数包括电阻式触摸屏上各点的物理坐标与逻辑坐标之间的函数关系参数，校准参数的获取过程包括步骤：在每台取出的电子设备的电阻式触摸屏上取n个的测试点，n≥2，点触各测试点，得到各测试点的逻辑坐标，根据各测试点的物理坐标与逻辑坐标计算校准参数；将校准参数或其平均值存入每一台该批电子设备中；校准参数包括X轴偏差系数kx，Y轴偏差系数ky，以及基准点的物理坐标与逻辑坐标，校准参数的获取过程包括步骤：在电阻式触摸屏上取n个的测试点，n≥3，其中至少3个测试点的物理X坐标不同，且至少3个测试点的物理Y坐标不同，各测试点物理坐标分别表示为(Xa，Ya)，(Xb，Yb)……(Xn，Yn)；点触各测试点，得到各测试点的逻辑坐标(XLa，YLa)，(XLb，YLb)……(XLn，YLn)；在测试点中，选取p对物理X坐标不同的测试点计算X轴偏差系数kx，p≥1，选取q对物理Y坐标不同的测试点计算Y轴偏差系数ky，q≥1，x轴偏差系数kx的计算公式如下：其中ΔXLi表示每对物理X坐标不同的点的逻辑X坐标差值，ΔXi表示每对物理X坐标不同的点的物理X坐标差值，Y轴偏差系数ky的计算公式如下：其中ΔYLi表示每对物理Y坐标不同的点的逻辑Y坐标差值，ΔYi表示每对物理Y坐标不同的点的物理Y坐标差值；在测试点中选取一点C点(Xc，Yc)点作为基准点，记录该电子设备的校准参数如下：基准点C的物理坐标(Xc，Yc)，基准点C的逻辑坐标(XLc，YLc)，X轴偏差系数kx以及Y轴偏差系数ky；取m台电子设备的基准点C的逻辑坐标(XLc，YLc)，X轴偏差系数kx，以及Y轴偏差系数ky，分别得到以上参数的平均值以及将基准点C的物理坐标(Xc，Yc)，基准点C的逻辑坐标的平均值X轴偏差系数平均值以及Y轴偏差系数平均值存入每一台该批电子设备中。