[发明专利]电阻式触摸屏的校准方法

说明书

技术领域

本发明涉及电子设备触摸屏校准的方法，尤其涉及一种电阻式触摸屏的校准方法。

背景技术

电阻式触摸屏是一种传感器，它将矩形区域中触摸点(X,Y)的物理位置转换为代表X坐标和Y坐标的电压。很多LCD模块都采用了电阻式触摸屏。

电阻式触摸屏是一种传感器，基本上是薄膜加上玻璃的结构，薄膜和玻璃相邻的一面上均涂有ITO(纳米铟锡金属氧化物)涂层，ITO具有很好的导电性和透明性。当触摸操作时，薄膜下层的ITO会接触到玻璃上层的ITO，经由感应器传出相应的电信号，经过转换电路送到处理器，通过运算转化为屏幕上的X、Y值，而完成点选的动作，并呈现在屏幕上。具体地，电阻触摸屏的屏体部分是一块与显示器表面非常配合的多层复合薄膜，由一层玻璃或有机玻璃作为基层，表面涂有一层透明的ITO导电层，上面再盖有一层外表面硬化处理、光滑防刮的塑料层，它的内表面也涂有一层ITO导电层，在两层导电层之间有许多细小(小于千分之一英寸)的透明隔离点把它们隔开绝缘。点触电阻屏时，两层ITO导电层出现一个接触点，因其中一面导电层接通Y轴方向的5V均匀电压场，使得侦测层的电压由零变为非零，控制器侦测到这个接通后，进行A/D转换，并将得到的电压值与5V相比，即可得触摸点的Y轴坐标，同理得出x轴的坐标，这就是电阻技术触摸屏的最基本原理。

在使用电阻屏的电子设备组装完成后，一般在出货前，会对电阻屏进行校准。电阻屏校准的基本原理是将CPU采集到的逻辑坐标(通过点击电阻屏获取)与显示屏建立一一对应的的关系。在实现本发明的过程中，发明人发现现有技术中存在如下问题，由于校准工序的时间关系，不可能对电阻屏的每个点进行采集，而要保证精度，采集点的数量又不能太少，所以校准过程费时费力，而且在校准过程中，很容易出现因为工作人员操作失误导致校准失败，从而需要重新校准或者误判定电阻屏不合格的情况。特别是，大批量生产时，进行每一台设备的电阻屏进行逐台校准，生产效率较低。

发明内容

为此，需要提供一种快捷准确的电阻式触摸屏的校准方法，以解决大批量生产时的电阻屏校准时间长、效率低的问题。

为实现上述目的，发明人提供了一种电阻式触摸屏的校准方法，包括步骤：

在一批使用电阻式触摸屏的电子设备产品中选取m台电子设备，其中m≥1；

对每台取出的电子设备的电阻式触摸屏的进行测试，以获取该电子设备的校准参数，所述校准参数包括电阻式触摸屏上各点的物理坐标与逻辑坐标之间的函数关系参数，校准参数的获取过程包括步骤：

在每台取出的电子设备的电阻式触摸屏上取n个的测试点，n≥2，

点触各测试点，得到各测试点的逻辑坐标，

根据各测试点的物理坐标与逻辑坐标计算校准参数；

将校准参数或其平均值存入每一台该批电子设备中。

其中，对每台取出的电子设备的电阻式触摸屏的进行测试，以获取该电子设备的校准参数，校准参数的获取过程包括步骤：

在电阻式触摸屏上取n个的测试点，n≥3，其中包括3个以上不同X坐标的测试点，以及3个以上不同Y坐标的测试点，各测试点物理坐标分别表示为(X_a，Y_a)，(X_b，Y_b)……(X_n，Y_n)；

点触各测试点，得到各测试点的逻辑坐标(X_La，Y_La)，(X_Lb，Y_Lb)……(X_Ln，Y_Ln)；

在测试点中，选取p对物理X坐标不同的测试点计算X轴偏差系数k_x，p≥1，选取q对物理Y坐标不同的测试点计算Y轴偏差系数k_y，q≥1，x轴偏差系数k_x的计算公式如下：其中ΔX_Li表示每对物理X坐标不同的点的逻辑X坐标差值，ΔX_i表示每对物理X坐标不同的点的物理X坐标差值，Y轴偏差系数k_y的计算公式如下：其中ΔY_Li表示每对物理Y坐标不同的点的逻辑Y坐标差值，ΔY_i表示每对物理Y坐标不同的点的物理Y坐标差值；