[发明专利]基于FPGA的非安装型存储器测试装置有效
申请号: | 201410340524.5 | 申请日: | 2014-07-17 |
公开(公告)号: | CN104516843B | 公开(公告)日: | 2018-04-20 |
发明(设计)人: | 韩永勉 | 申请(专利权)人: | 韩商联测股份有限公司 |
主分类号: | G06F13/38 | 分类号: | G06F13/38 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司11002 | 代理人: | 谢顺星,张晶 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于FPGA的非安装型存储器测试装置,包括处理器部,执行列举和构形,制作场景,设定设备驱动部;设备驱动部,与主机总线适配器进行通讯;数据引擎部,生成模式数据,从系统存储器访问用户存储的数据,进行测试;系统内存接口部,接收进程所需的数据,并存储测试结果;监控部,监控PCIe处理层的数据包并储存;直接内存存取驱动/地址转换部,若所述设备驱动部对场景进行译码,向主机总线适配器传达命令,则所有数据流执行直接内存存取动作,向根联合体发送内存读取请求;信息输入输出部,向数据引擎部和设备驱动部传达;PCIe IP部,为PCI Express逻辑的SW IP;开关部;被测设备部;内存部。 | ||
搜索关键词: | 基于 fpga 安装 存储器 测试 装置 | ||
【主权项】:
一种基于FPGA的非安装型存储器测试装置,其包括:处理器部(100),其作为在FPGA内部构成的微处理器,执行对根联合体以下PCIe总线树的装置的列举和构形,制作用于测试的场景,设定设备驱动部(200),以便进行测试;设备驱动部(200),其作为基于所述处理器部(100)制作的测试场景,生成用于存储装置的高级技术附件命令的模块,与包括管理存储装置的高级主控接口的主机总线适配器进行通讯;数据引擎部(300),其生成用于测试的模式数据,从系统存储器访问用户存储的数据,来进行测试;系统内存接口部(400),其接收进程所需的数据,以便所述处理器部(100)和数据引擎部(300)访问内存部(1100)而能够进行测试,并存储测试结果;监控部(500),其在发生测试不良时,监控PCIe处理层的数据包并储存;直接内存存取驱动/地址转换部(600),若所述设备驱动部(200)对场景进行译码,并通过PCIe总线向主机总线适配器传达命令,则所有数据流执行成为主机总线适配器主令的直接内存存取动作,向包括设备驱动部(200)的根联合体发送内存读取请求;信息输入输出部(700),所述直接内存存取驱动/地址转换部(600)的解读结果,在传达至Bus ConRC的TLP为信息的情况下,将其传达给数据引擎部(300)和设备驱动部(200);PCIe IP部(800),其为PCI Express逻辑的SW IP;开关部(900),其与所述PCIe IP部(800)连接,构成被测设备部(1000);被测设备部(1000),其作为被测装置,是包括主机总线适配器,与PCIe直接连接的存储器;内存部(1100),其存储用于测试的数据,存储测试期间生成的记录,所述处理器部(100)在测试结束的情况下,从所述设备驱动部(200)接收关于是否出错及成功的结果,在发生错误的情况下,访问PCIe的TLP和设备错误信息,所述处理器部(100)包括N个场景插槽,各个场景存储于所述场景插槽内的DW缓存器中。
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