[发明专利]一种基于回归分析的反射面精度分析方法无效

专利信息
申请号: 201410323311.1 申请日: 2014-07-08
公开(公告)号: CN104111054A 公开(公告)日: 2014-10-22
发明(设计)人: 杜娟;谭惠丰;林国昌;卫剑征 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G01B21/20 分类号: G01B21/20
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 150000 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 发明公开了一种基于回归分析的反射面精度分析方法,其步骤如下:一、对抛物面天线反射面精度进行测量;二、确定抛物面天线反射面的理论回归方程;三、利用nlinfit函数进行二重非线性回归分析,得到偏回归系数和焦距值;四、计算均方根RMS值。本发明计算简单,对天线反射面的精度调整要求降低,不再是一个具体值那样苛刻,更具有实际工程意义与价值。
搜索关键词: 一种 基于 回归 分析 反射 精度 方法
【主权项】:
一种基于回归分析的反射面精度分析方法,其特征在于所述方法步骤如下:一、对抛物面天线反射面精度进行测量,得到反射面的形状数据;二、确定抛物面天线反射面的理论回归方程:z=βx2+βy2;其中:x、y、z代表测量的天线反射面的空间点的三维坐标,β是偏回归系数;三、利用nlinfit函数进行二重非线性回归分析,得到偏回归系数和焦距值f;四、计算均方根RMS值:<mrow><mi>RMS</mi><mo>=</mo><msqrt><mfrac><mrow><munderover><mi>&Sigma;</mi><mrow><mi>i</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow><mi>n</mi></munderover><msup><mi>&delta;</mi><mn>2</mn></msup></mrow><mrow><mi>n</mi><mo>-</mo><mn>1</mn></mrow></mfrac><mo>;</mo></msqrt></mrow>其中:δ代表计算值与测量值的偏差。
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