[发明专利]一种基于回归分析的反射面精度分析方法无效
| 申请号： | 201410323311.1 | 申请日： | 2014-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN104111054A | 公开（公告）日： | 2014-10-22 |
| 发明（设计）人： | 杜娟;谭惠丰;林国昌;卫剑征 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G01B21/20 | 分类号： | G01B21/20 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 150000 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 回归 分析 反射 精度 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于回归分析的反射面精度分析方法，其特征在于所述方法步骤如下：
一、对抛物面天线反射面精度进行测量，得到反射面的形状数据；
二、确定抛物面天线反射面的理论回归方程：
z＝βx2+βy2；
其中：x、y、z代表测量的天线反射面的空间点的三维坐标，β是偏回归系数；
三、利用nlinfit函数进行二重非线性回归分析，得到偏回归系数和焦距值f；
四、计算均方根RMS值：
其中：δ代表计算值与测量值的偏差。
2.根据权利要求1所述的基于回归分析的反射面精度分析方法，其特征在于所述偏差按照以下公式计算：
其中：X、Y、Z为测量点坐标值。
3.根据权利要求1所述的基于回归分析的反射面精度分析方法，其特征在于采用非接触测量方法测量反射面的形状数据。
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