[发明专利]一种用于芯片总剂量辐照试验的探针台在审
申请号: | 201410277330.5 | 申请日: | 2014-06-19 |
公开(公告)号: | CN104020327A | 公开(公告)日: | 2014-09-03 |
发明(设计)人: | 顾吉;吴建伟;陈海波;陈嘉鹏;郑良晨;徐海铭 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
主分类号: | G01R1/067 | 分类号: | G01R1/067 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 韩国胜;张海英 |
地址: | 214035 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于芯片总剂量辐照试验的探针台,实现了将探针台应用与芯片辐照测试领域,所述用于芯片总剂量辐照试验的探针台包括显微镜和探针台体,所述探针台体与显微镜分体设置,所述探针台体位于显微镜下方,所述探针台体包括防振基台,基台立柱,承片台,所述基台立柱固定在防振基台上,所述基台立柱上固定有探针卡,所述承片台设置在探针卡下方,所述承片台下方依次连接有回转平台、垂直升降机构和水平移动机构,所述水平移动机构下端固定在防振基台上,与显微镜分体设置的探针台体结构紧凑,体积小,质量轻,可带着其上固定的芯片进入辐照测试腔进行辐照试验。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 芯片 剂量 辐照 试验 探针 | ||
【主权项】:
一种用于芯片总剂量辐照试验的探针台,包括探针台体、显微镜、固定支架和显示屏,其特征在于:所述显微镜和显示屏固定在固定支架上,所述探针台体单独的放置在显微镜正下方的固定支架的底座上,所述探针台体包括防振基台、基台立柱和承片台,所述基台立柱固定在防振基台上,所述基台立柱上固定有探针卡,所述用于固定芯片的承片台设置在探针卡下方,所述承片台下方依次连接有回转平台、垂直升降机构和水平移动机构,所述水平移动机构下端固定在防振基座上。
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