[发明专利]一种板级电路测试性指标计算方法

摘要

本发明公开了一种板级电路测试性指标计算方法，根据测试信息数据库，结合电路中的器件信息，构建与信号流和位置无关的依赖矩阵Du，根据依赖矩阵Du计算得到最高故障检测率，再对依赖矩阵Du进行重构得到重构矩阵，实现对同类器件中不同位置器件的隔离，根据重构矩阵计算得到最高故障隔离率，根据测试选择的布尔向量计算当前测试选择的故障隔离率。可见，本发明通过与信号流无关的依赖矩阵Du的构建和重构，实现了板级电路中各项测试性指标的计算。

主权项

一种板级电路测试性指标计算方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：根据测试信息数据库，结合电路中的器件信息，构建与信号流和位置无关的m×n的依赖矩阵Du，具体方法为：以|S|表示器件种类的数量，sx表示第x种器件，x的取值范围为1≤x≤|S|；px表示第x种器件的故障概率；|Fx|表示第x种器件中的故障模式的数量；表示第x种故障器件的第yx种故障模式，yx的取值范围为1≤yx≤|Fx|；表示第x种器件的第yx种故障模式的概率；表示第x种器件的第yx种故障模式被第j个测试tj的覆盖率，j的取值范围为1≤j≤|T|，|T|表示测试的数量，cj表示第j个测试的开销；i的取值范围为1≤i≤m；根据模块故障概率px和各模块的故障模式概率进行换算得到依赖矩阵Du中第i种故障模式的概率S2：根据步骤S1得到的依赖矩阵Du和换算得到的概率pi即可计算最高故障检测率，计算公式为：FDRmax=Σi=1npi[1-Πj=1m(1-dij)]Σi=1npi]]>S3：对依赖矩阵Du进行重构，得到重构矩阵E，重构方法为：根据电路中的器件信息得到电路中器件数量最多的器件种类，记其数量为N，初始化m′×n′的重构矩阵D′的每个元素值为0，其中n′＝|T|×N，对于第x种器件中位于第gx号位置的器件，其中gx的取值范围为1≤gx≤|Gx|，|Gx|为第x种器件的数量，令j′＝(gx‑1)×|T|+j，重构矩阵D′中的元素i′的取值范围为1≤i′≤m′，j′的取值范围为1≤j′≤n′；根据模块故障概率px和各模块的故障模式概率进行换算得到重构矩阵D′中第i′种故障模式的概率S4：根据重构矩阵D′和换算得到概率pi′即可计算得到最高故障隔离率，计算公式为：FIRmax=Σi′=1m′pi{Πk′=1k≠i′m′[1-Πj′=1n′((1-di′j′)(1-dk′j′)+di′j′dk′j′)]}Σi′=1m′pi′]]>S5：根据需要选择测试，得到布尔向量B′＝[b1,b2,…bn′]，bj′＝1表示第j′种测试被选中，bj′＝0表示第j′种测试未被选中，计算当前选中测试能达到的故障隔离率：FIR=Σi′=1m′pi{Πk′=1k′≠i′m′[1-Πj′=1n′((1-di′j′)(1-dk′j′)+di′j′dk′j′)bj′]}Σi′=1m′pi′.]]>