[发明专利]TFT阵列基板结构有效

专利信息
申请号: 201410271346.5 申请日: 2014-06-17
公开(公告)号: CN104007594B 公开(公告)日: 2017-12-29
发明(设计)人: 姚晓慧;许哲豪 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: G02F1/1368 分类号: G02F1/1368
代理公司: 深圳市德力知识产权代理事务所44265 代理人: 林才桂
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种TFT阵列基板结构,包括第一与第二栅极(11、13)、半导体层(20)、第一与第二源极(31、33)及第一与第二漏极(42、44),第一栅极(11)与第一漏极(42)在空间上交叠设置形成第一交叠区域(D),第二栅极(13)与第二漏极(44)在空间上交叠设置形成第二交叠区域(E),第一栅极(11)对应第一交叠区域(D)具有第一边缘(113),第二栅极(13)对应第二交叠区域(E)具有第二边缘(133),第一边缘(113)与第一漏极(42)在空间上斜交,第二边缘(133)与第二漏极(44)在空间上斜交,当第一、第二漏极(42、44)相对于第一、第二栅极(11、13)发生相对移动时,第一交叠区域(D)与第二交叠区域(E)的面积产生同向变化。
搜索关键词: tft 阵列 板结
【主权项】:
一种TFT阵列基板结构,包括:第一与第二栅极(11、13)、设于第一与第二栅极(11、13)上方的半导体层(20)、设于半导体层(20)上的第一与第二源极(31、33)及设于半导体层(20)上的第一与第二漏极(42、44),所述第一与第二栅极(11、13)电性连接,第一与第二源极(31、33)电性连接,所述第一栅极(11)与第一漏极(42)在空间上交叠设置形成第一交叠区域(D),所述第二栅极(13)与第二漏极(44)在空间上交叠设置形成第二交叠区域(E),所述第一栅极(11)对应第一交叠区域(D)具有第一边缘(113),所述第二栅极(13)对应第二交叠区域(E)具有第二边缘(133),其特征在于,所述第一边缘(113)与第一漏极(42)在空间上斜交,所述第二边缘(133)与第二漏极(44)在空间上斜交,从而,当第一、第二漏极(42、44)相对于第一、第二栅极(11、13)发生相对移动时,第一交叠区域(D)与第二交叠区域(E)的面积产生同向的变化;第一边缘(113)相对于第一漏极(42)的倾斜方向与第二边缘(133)相对于第二漏极(44)的倾斜方向相反;所述第一漏极(42)对应于第一交叠区域(D)的部分呈条形,第二漏极(44)对应于第二交叠区域(E)的部分呈条形,且两条形的朝向垂直;第一漏极(42)对应第一交叠区域(D)的宽度为W1,第二漏极(44)对应第二交叠区域(E)的宽度为W2,第一边缘(113)与第一漏极(42)形成的锐角夹角α1=arccot(W2/W1),第二边缘(133)与第二漏极(44)形成的锐角夹角α2=arccot(W1/W2);第一源极(31)呈开口朝上的U形,第二源极(33)呈开口朝右的U形,且第一源极(31)的右部分与第二源极(33)的左部分连接。
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