[发明专利]一种LED结温或LED阵列平均结温的测量方法

摘要

本发明公开了一种LED结温或LED阵列平均结温的测量方法，首先要对LED结温建立公式，小电流所产生的LED光源的自加热过程对结温影响较小，恒温器与LED光源之间的热阻较小，使用恒温器温度代替LED结温。测量不同恒温器温度下的质心波长，建立质心波长与结温的关系式。再根据公式及测量的工作条件下LED光源的质心波长，便可方便的求出工作条件下LED的结温。本发明单次标定，多次测量。操作简单，与峰值波长法，蓝白比法步骤相似。仅需常规的光电测试装置。质心波长测量的可重复性高，用于表征结温误差小。不接触LED引脚。可以用于单颗LED结温测量，也可以用于多颗LED组成的阵列的平均结温测量，使用范围广。

主权项

一种LED结温或LED阵列平均结温的测量方法，其特征在于步骤包括：1)获取待测LED阵列中构成的LED模块的LED型号和各个型号的个数，当待测LED阵列已经标定，即已知质心波长‑结温变化的系数k，则执行步骤6)，否则执行步骤2)；2)将LED光源安装在恒温器上的灯座上，保持两者良好的热接触，并通过积分球一侧的孔进入积分球内表面，光谱分析仪探头通过积分球另一侧的孔进入积分球内壁，光谱仪数据输出端与电脑相连，驱动电源控制端与电脑相连，电源输出端与灯座相连，之后执行步骤3)；3)经过步骤2)后设置恒温器温度T_a，当LED光源达到设置的恒温器温度后调整驱动电源，使LED光源在小电流驱动下发光，然后用光谱分析仪测量LED光源的相对光谱，并传输至电脑记录下相对光谱，之后执行步骤4)；4)重复步骤3)，测量恒温器温度为T_b时LED光源的相对光谱，之后执行步骤5)；5)通过公式计算不同恒温器温度对应的质心波长，式中，L(λ)为LED的相对光谱，λ为波长,单位为nm，通过公式k＝(T_a‑T_b)/(λ_wa‑λ_wb)计算质心波长‑结温变化的系数k，其中λ_wa，λ_wb为测量恒温器温度为T_a，T_b时的质心波长，之后执行步骤6；6)测量小电流驱动下以及工作环境下待测LED的质心波长λ_wT和λ_wx，以及环境温度T，通过公式T_j＝T+k(λ_wx‑λ_wT)计算出工作条件下LED结温或LED阵列平均结温。