[发明专利]微机械陀螺闭环检测设计方法和装置有效
申请号: | 201410264560.8 | 申请日: | 2014-06-13 |
公开(公告)号: | CN104111079B | 公开(公告)日: | 2017-03-08 |
发明(设计)人: | 何春华;黄钦文;何小琦;王蕴辉 | 申请(专利权)人: | 工业和信息化部电子第五研究所 |
主分类号: | G01C25/00 | 分类号: | G01C25/00 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人: | 黄晓庆 |
地址: | 510610 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种微机械陀螺闭环检测设计方法和装置,首先根据可控因素水平表挑选各因素各水平情况下的方案进行试验,得到各内表试验方案;然后根据不可控因素水平表对每一个内表试验方案进行外表试验,得到相应的相位裕量、幅度裕量、开环增益和带宽值;进一步计算每一个外表试验的性能评价值,计算每一个内表试验方案的信噪比;最后根据每一个内表试验方案的信噪比,计算可控因素水平表各因素各水平情况下信噪比总和,确定最优化的内表试验方案。本发明通过可控因素水平表、不可控因素水平表设计试验,降低了试验次数和控制器参数设计复杂度,保证闭环检测的稳定性,使系统性能在全温范围均值最大,提高闭环检测的性能,具有很好的应用价值。 | ||
搜索关键词: | 微机 陀螺 闭环 检测 设计 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种微机械陀螺闭环检测设计方法,其特征在于,包括以下步骤:根据可控因素水平表挑选各因素各水平情况下的方案进行试验,得到各内表试验方案,所述可控因素水平表根据微机械陀螺闭环检测系统的闭环控制器的可控因素制定;根据不可控因素水平表对得到的每一个内表试验方案进行外表试验,得到相应的微机械陀螺闭环检测系统的相位裕量、幅度裕量、开环增益和带宽值,所述不可控因素水平表根据微机械陀螺闭环检测系统的不可控因素制定;根据所述相位裕量、幅度裕量、开环增益和带宽值求得每一个外表试验的微机械陀螺闭环检测系统的性能评价值;当外表试验完毕后,根据求得的各外表试验的微机械陀螺闭环检测系统的性能评价值,计算每一个内表试验方案的信噪比;当各内表试验方案进行外表试验后,根据得到的每一个内表试验方案的信噪比,计算所述可控因素水平表各因素各水平情况下对应的信噪比总和,根据所述信噪比总和确定最优化的内表试验方案;所述微机械陀螺闭环检测系统的性能评价值通过性能评价函数得到,所述性能评价函数的表达式为:其中R、AM和BW分别表示微机械陀螺闭环检测系统的模糊可靠度、开环增益和带宽值,b1、b2表示权重因子,b1+b2=1,AM0和BW0分别表示微机械陀螺闭环检测系统期望设计的最大开环增益和带宽值,所述模糊可靠度根据所述相位裕量、幅度裕量,利用预设规则计算得到。
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