[发明专利]一种基于区域描述和先验知识的图像显著性检测方法在审
| 申请号： | 201410251160.3 | 申请日： | 2014-06-06 |
| 公开（公告）号： | CN104103082A | 公开（公告）日： | 2014-10-15 |
| 发明（设计）人： | 王伟凝;蔡冬;姜怡孜;韦岗 | 申请（专利权）人： | 华南理工大学 |
| 主分类号： | G06T7/40 | 分类号： | G06T7/40 |
| 代理公司： | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人： | 陈文姬 |
| 地址： | 510640 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于区域描述和先验知识的图像显著性检测方法，包括以下步骤：(1)对待检测图像进行预分割，生成超像素，得到预分割图像；(2)生成超像素的融合特征协方差矩阵；(3)计算每个超像素的特征差异区域描述符和空间分布区域描述符；(4)计算待检测图像的各像素点的初始显著度值；(5)获取图像先验显著区域及背景区域；(6)计算待检测图像每个像素点的显著度权值；(7)计算每个像素点的最终显著度值。本发明得到的最终显著图能够均匀地突出显著区域，抑制背景噪声干扰，不仅能够在一般图像中得到很好的显著性检测效果，也能处理复杂图像的显著性检测，有利于后续诸如图像关键区域提取等处理。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 区域 描述 先验 知识 图像 显著 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种基于区域描述和先验知识的图像显著性检测方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)对待检测图像进行预分割，生成超像素，得到预分割图像；(2)将每个像素点在CIELab色彩空间中的三个颜色特征和四个纹理特征，采用非线性的方法，生成超像素的融合特征协方差矩阵；(3)计算每个超像素的特征差异区域描述符和空间分布区域描述符；(4)利用超像素的特征差异区域描述符和空间分布区域描述符，计算待检测图像的各像素点的初始显著度值；(5)基于显著点的先验知识，获取图像先验显著区域及背景区域；(6)根据超像素与背景区域的颜色距离，计算待检测图像每个像素点的显著度权值；(7)将步骤(6)中得到的各像素点的显著度权值进行归一化后，与初始显著度值相乘，计算得到每个像素点的最终显著度值。
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