[发明专利]同位素模式识别

摘要

确定样品内的元素或元素组合的丰度度量，该元素或元素组合具有至少一个同位素变体。鉴别该元素或元素组合的一个同位素质谱模式，该同位素质谱模式表明每个同位素变体的预期丰度和预期质荷比差。这些是相对于一种主同位素的对应丰度和质荷比进行鉴别的。该同位素质谱模式与来自该样品的分子质量分析进行比较来鉴别峰组，这些峰组各自匹配该同位素质谱模式。作为来自已鉴别的峰组中每一个的一个或多个峰的强度测量值的函数来确定该元素或元素组合的丰度度量。

主权项

1.一种用于确定样品内的元素或元素组合的丰度度量的方法，该元素或元素组合具有至少一个同位素变体，该方法包括：鉴别该元素或元素组合的精确质量的精细同位素质谱模式，该同位素质谱模式表明一个或多个同位素变体中每一个的预期丰度和预期精细质荷比差，该预期丰度和预期精细质荷比差是相对于该元素或元素组合的一个主同位素的相应丰度和质荷比进行鉴别的；基于该已鉴别的同位素质谱模式，确定该质谱数据的最小分辨率，以去除同一标称质量但不同精确质荷比的其它峰的干涉；控制一个质量分析器来进行分子质量分析并且从而提供该质谱数据以实现至少该已确定的最小分辨率；将该同位素质谱模式与来自该样品的分子质量分析的质谱数据进行比较，该质谱数据包括多个峰，每个峰表明一个相应的精细质荷比的强度测量值，其中该比较鉴别出各自匹配该同位素质谱图的多个峰组；作为来自这些已鉴别的多个峰组中每一个的至少二个峰的强度测量值的函数来确定该元素或元素组合的丰度度量；重复该比较和确定多个样品中每一个的丰度度量的步骤，以便提供该元素或元素组合的多个丰度度量，每个丰度度量是来自该多个样品中的对应样品的，该多个样品是在一个不同时间范围、和一个不同空间位置范围中之一或两者处产生的；并且提供所述元素或元素组合对时间和/或空间的迹线。