[发明专利]粘接片、及切割/芯片接合薄膜有效

专利信息
申请号: 201410244914.2 申请日: 2014-06-04
公开(公告)号: CN104212375B 公开(公告)日: 2019-04-02
发明(设计)人: 木村雄大;三隅贞仁;大西谦司;宍户雄一郎;菅生悠树 申请(专利权)人: 日东电工株式会社
主分类号: C09J7/20 分类号: C09J7/20;C09J133/00;C09J163/00;C09J11/04;H01L21/68
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;李茂家
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供可靠性高且凹凸填埋性优异的粘接片、及切割/芯片接合薄膜。本发明涉及一种粘接片,其包含球状氧化铝填料和树脂成分,所述树脂成分包含高分子量成分(A)和低分子量成分(B),相对于100重量份粘接片,前述球状氧化铝填料的含量为78~88重量份,前述球状氧化铝填料的平均粒径为2~9μm,比表面积为0.8~8.0m2/g,由前述高分子量成分(A)的重量/前述高分子量成分(A)和前述低分子量成分(B)的总重量表示的重量比为0.03~0.25。
搜索关键词: 粘接片 切割 芯片 接合 薄膜
【主权项】:
1.一种粘接片,其包含球状氧化铝填料和树脂成分,所述树脂成分包含高分子量成分(A)和低分子量成分(B),相对于100重量份粘接片,所述球状氧化铝填料的含量为78~88重量份,所述球状氧化铝填料的平均粒径为2~9μm、比表面积为0.8~8.0m2/g,由所述高分子量成分(A)的重量/所述高分子量成分(A)和所述低分子量成分(B)的总重量表示的重量比为0.03~0.25,在所述球状氧化铝填料的粒度分布中,存在2个以上的峰,第一峰存在于0.2~0.8μm的粒径范围,第二峰存在于3~15μm的粒径范围,所述高分子量成分(A)的重均分子量为10000以上,所述低分子量成分(B)的重均分子量为5000以下,所述低分子量成分(B)至少包含环氧树脂和酚醛树脂,所述高分子量成分(A)为丙烯酸类橡胶。
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