[发明专利]具有补偿区的半导体器件有效
申请号: | 201410149318.6 | 申请日: | 2014-04-15 |
公开(公告)号: | CN104103691B | 公开(公告)日: | 2017-05-10 |
发明(设计)人: | F.希尔勒 | 申请(专利权)人: | 英飞凌科技奥地利有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/861;H01L29/06 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人: | 张凌苗,徐红燕 |
地址: | 奥地利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 公开了具有补偿区的半导体器件。一种半导体器件包括半导体基体,所述半导体基体包括内区和边缘区;在所述内区和边缘区中并且耦合到第一端子的第一掺杂类型的第一掺杂器件区;以及在所述内区中并耦合到第二端子的与所述第一掺杂类型互补的第二掺杂类型的至少一个第二掺杂器件区。此外,所述半导体器件包括所述边缘区中的少数载流子转换器结构。所述少数载流子转换器结构包括与第一掺杂器件区邻接的第二掺杂类型的第一阱区,以及将所述第一阱区电耦合到第一掺杂器件区的导体。 | ||
搜索关键词: | 具有 补偿 半导体器件 | ||
【主权项】:
一种半导体器件,包括:半导体基体,其包括内区和边缘区;第一掺杂类型的第一掺杂器件区,其在所述内区和所述边缘区中并且耦合到第一端子;与所述第一掺杂类型互补的第二掺杂类型的至少一个第二掺杂器件区,其在所述内区中并耦合到第二端子;以及所述边缘区中的少数载流子转换器结构,所述少数载流子转换器结构包括与所述第一掺杂器件区邻接的所述第二掺杂类型的第一阱区,以及将所述第一阱区电耦合到所述第一掺杂器件区的导体,其中,所述少数载流子转换器结构还包括所述第一掺杂类型的并且比所述第一掺杂器件区更高掺杂的接触区,其中所述接触区连接到所述导体并且与所述第一掺杂器件区邻接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于英飞凌科技奥地利有限公司,未经英飞凌科技奥地利有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410149318.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类