[发明专利]一种微纳米颗粒分散分布的分析评估方法有效
| 申请号： | 201410138109.1 | 申请日： | 2014-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN103903266A | 公开（公告）日： | 2014-07-02 |
| 发明（设计）人： | 熊振华;袁鑫;盛鑫军;朱向阳 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00 |
| 代理公司： | 上海旭诚知识产权代理有限公司 31220 | 代理人： | 郑立 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供的一种微纳米颗粒分散分布的分析评估方法，包括以下步骤：采集微纳米颗粒显微图像，并进行灰度化处理；采用OTSU大津法进行二值化处理，去除图像中的杂质点和无效连通域；利用形态学运算，分离相连的连通域，并填补连通域中的孔洞；添加虚拟颗粒，采用分水岭算法进行图像分割，获得分割后的特征连通域；计算特征连通域的相关数据；对微纳米颗粒分散分布进行评估。本发明提供的分析评估方法，能够获得更加精确的结果；可批量快速处理大量的微纳米颗粒分布显微图像；能够从均匀度、密度和团聚程度三个方面，全面地对微纳米颗粒分布的情况进行分析和评估。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 纳米 颗粒 分散 分布 分析 评估 方法 | ||
【主权项】：
一种微纳米颗粒分散分布的分析评估方法，其特征在于，包括以下步骤：（1）采集微纳米颗粒显微图像，并进行灰度化处理，得到灰度图像；（2）采用OTSU大津法对所述灰度图像进行处理，得到二值化图像，去除所述二值化图像中的杂质点和无效连通域；（3）利用形态学运算处理所述二值化图像，分离相连的连通域，并填补连通域中的孔洞；（4）添加虚拟颗粒，对添加虚拟颗粒后的图像采用分水岭算法进行图像分割，获得分割后的特征连通域；（5）计算所述特征连通域的相关数据；（6）对所述微纳米颗粒分散分布进行评估。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海交通大学，未经上海交通大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410138109.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种风冷柴油机的紧急停车装置
- 下一篇：一种可移动终端定位方法及系统
