[发明专利]一种数控机床故障分析方法有效
申请号: | 201410120870.2 | 申请日: | 2014-03-28 |
公开(公告)号: | CN103870659A | 公开(公告)日: | 2014-06-18 |
发明(设计)人: | 张英芝;孙曙光;申桂香;郑锐;戚晓艳;龙哲 | 申请(专利权)人: | 吉林大学 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 长春吉大专利代理有限责任公司 22201 | 代理人: | 齐安全;胡景阳 |
地址: | 130012 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 本发明公开了一种数控机床故障分析方法,克服现有技术存在的机床故障分析中未考虑故障相关性问题;集成DEMATEL-ISM法,结合故障统计相关数据,考虑子系统间故障相关关系,应用有向图和矩阵运算得到子系统间综合影响矩阵和相关度,由子系统间综合影响矩阵得到整体影响矩阵和可达矩阵,将可达矩阵分解得到多级递阶层次结构模型。综合相关度和多级递阶层次结构模型得到数控机床关键子系统;利用FMECA技术分析确定关键子系统各组成部分可能存在的故障模式及每一故障模式对数控机床工作的影响,找到单点故障,依照各故障模式严酷度及各故障模式发生概率,确定各故障模式危害性。 | ||
搜索关键词: | 一种 数控机床 故障 分析 方法 | ||
【主权项】:
一种数控机床故障分析方法,其特征在于,包括以下步骤: 步骤1:集成DEMATEL‑ISM法分析故障子系统相互影响,并得到故障子系统相关度和多级递阶层次结构模型,进而得到关键子系统; 结合故障统计相关数据,考虑子系统间故障相关关系,采用Decision Making Trial and Evaluation laboratory决策实验室分析法,应用有向图和矩阵运算得到故障子系统综合影响矩阵与故障子系统相关度,并应用Interpretative Structural Modeling解释结构模型,将众多要素相互影响的逻辑关系用多级递阶层次结构模型进行直观表示,综合故障子系统相关度和多级递阶层次结构模型,得到数控机床关键子系统; 步骤2:利用FMECA分析技术对所得关键子系统进行故障分析求得关键故障模式; 通过分析确定数控机床关键子系统各组成部分可能存在的故障模式,及每一故障模式对数控机床工作的影响,找到单点故障,并依照各故障模式严酷度及各故障模式发生概率,确定各故障模式危害性,为采取相应补救改进措施以消除或减轻各故障模式危害性提供依据。
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