[发明专利]读取非易失性存储器电流的方法及获取电流分布状态的方法有效
| 申请号： | 201410106658.0 | 申请日： | 2014-03-20 |
| 公开（公告）号： | CN103886906B | 公开（公告）日： | 2017-01-25 |
| 发明（设计）人： | 代瑞娟;席与凌;李强 | 申请（专利权）人： | 上海华力微电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/26 | 分类号： | G11C16/26;G11C16/34 |
| 代理公司： | 上海申新律师事务所31272 | 代理人： | 吴俊 |
| 地址： | 201210 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了读取非易失性存储器电流的方法及获取电流分布状态的方法，读取非易失性存储器电流的方法为被测的非易失性存储器中的每个存储单元均处于测试状态，该方法为同时测量所有存储单元的电流，所述存储单元为被测器件；其中，每个被测器件的电流测试为获取所述被测器件中的电流；判断所述被测器件是否处于编程状态，若是，根据所述电流获取所述被测器件失效单元个数；若否则所述被测器件失效单元为零个结束。本发明很大程度上缩短了测试时间，有效地提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 读取 非易失性存储器 电流 方法 获取 分布 状态 | ||
【主权项】：
读取非易失性存储器电流的方法，其特征在于，被测的非易失性存储器中的每个存储单元均处于测试状态，该方法为同时测量所有存储单元的电流，所述存储单元为被测器件；其中，每个被测器件的电流测试步骤为：步骤1.通过恒流源从所述被测器件中拉出电流IOH；步骤2.判断所述被测器件是否处于编程状态，若是，执行步骤3；若否则所述被测器件失效单元为零个，执行步骤4；步骤3.根据所述电流获取所述被测器件失效单元个数，执行步骤4；步骤4.结束；其中，步骤3中根据所述电流获取所述被测器件失效单元个数的具体过程为：步骤31.判断所述电流IOH是否大于或等于所述被测器件饱和电流Icell，若是则所述被测器件失效单元为零个并执行步骤32；若否则所述被测器件失效单元存在失效单元并执行步骤34；步骤32.所述电流IOH以1uA的步进减小一次，执行步骤33；步骤33.判断减小后的所述电流IOH是否为0A，若是，执行步骤4；若否，执行步骤31；步骤34.获取并存储所述失效单元个数，并存取与所述失效单元个数对应的电流值，执行步骤32。
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