[发明专利]靶场光学测量设备姿态测量精度的测量方法有效

专利信息
申请号: 201410100646.7 申请日: 2014-03-18
公开(公告)号: CN103868528B 公开(公告)日: 2017-01-04
发明(设计)人: 田留德;段炯;段亚轩;龙江波;赵怀学;赵建科;周艳;潘亮;王争锋 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司61211 代理人: 姚敏杰
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种靶场光学测量设备姿态测量精度的测量方法,包括:1)确定模拟目标;2)选用姿态板;3)将姿态板安装在平行光管上;4)将平行光管固定在可倾斜桁架上;5)对姿态板中心点进行测量;6)对模拟目标进行多点测量;7)对各模拟目标的姿态进行拟合;8)计算被测姿态测量设备像面上姿态板中心点的像到各模拟目标的像的距离;9)被测姿态测量设备对模拟目标进行动态成像;10)将被测姿态测量设备获得的各目标像的倾角及姿态板中心点的像到各模拟目标像的距离与所得到的各模拟目标的倾角和姿态板中心点的像到各模拟目标像的距离的真值进行比较。本发明可为靶场光测设备的设计和改进提供数据依据,提高测试精度。
搜索关键词: 靶场 光学 测量 设备 姿态 精度 测量方法
【主权项】:
一种靶场光学测量设备姿态测量精度的测量方法,其特征在于:所述方法包括以下步骤:1)根据需要被测姿态测量设备确定模拟目标;2)根据模拟目标选用姿态板;3)将姿态板安装在平行光管上,并使姿态板位于平行光管焦平面处;4)将平行光管固定在可倾斜桁架上;5)采用高精度经纬仪或全站型电子速测仪对姿态板中心点进行测量,同时记录姿态板中心点的方位俯仰角(A0,E0);6)采用高精度经纬仪对模拟目标进行多点测量,同时记录各测量点的方位俯仰角(Ai,Ei),其中,i=1,2,3,…,n;7)根据步骤5)中所获取的姿态板中心点的方位俯仰角(A0,E0)以及步骤6)中所获取的模拟目标的各测量点的方位俯仰角(Ai,Ei)对各模拟目标的姿态进行拟合,得到各模拟目标的倾角的真值;8)计算被测姿态测量设备像面上姿态板中心点的像到各模拟目标的像的距离;9)被测姿态测量设备对模拟目标进行动态成像,经过图像判读系统输出各目标像的倾角及姿态板中心点的像到各模拟目标像的距离;10)将步骤9)中被测姿态测量设备获得的各目标像的倾角及姿态板中心点的像到各模拟目标像的距离与步骤7)和步骤8)所得到的各模拟目标的倾角和姿态板中心点的像到各模拟目标像的距离的真值进行比较,得到被测姿态测量设备的姿态测量精度。
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