[发明专利]用于提取AMOLED显示器的老化图案的带边缘检测的再插值

摘要

本发明提供了一种方法，该方法包括初始均匀像素测量、插值以及之后的边缘检测算法，边缘检测算法识别对由插值引起的大部分估计作出主要贡献的区域。也检测位于边缘以及边缘附近的像素，并且通过针对初始测量像素以及所检测到的边缘周围的像素的整个测量的数据集的再插值来获得整个显示器的老化图案。尤其在存在具有显著边缘的高空间相关的区域的老化图案的情况下，降低了估计误差。

主权项

一种在显示器上进行识别的方法，所述显示器具有像素，所述像素由于每个所述像素中的电流驱动型部件的一个以上的老化特性的偏移而老化，所述方法包括如下步骤：通过使用测量电路，利用下采样率K_V×K_H按照下述方式测量所述显示器的至少第一区域中的至少一部分但非全部像素的老化特性以产生初始像素测量的集合：沿所述第一区域的列测量至少每第K_V个像素的老化特性，并且沿所述第一区域的行测量至少每第K_H个像素的老化特性，其中，K_V和K_H是相同的或彼此不同的正整数；对所述初始像素测量的集合插值，以产生至少针对所述第一区域的初始老化图案；将所述初始老化图案存储在存储设备中；通过使用边缘检测算法，在所述初始老化图案中定位与像素强度的非连续性相对应的边缘；通过使用所述测量电路，测量那些沿着在所述初始老化图案中所定位的边缘且未在所述初始像素测量的集合中被测量的像素的老化特性，以产生边缘测量的集合；通过使用所述初始像素测量的集合以及所述边缘测量的集合来应用分散插值算法，以产生至少所述第一区域的优化老化图案；以及将所述优化老化图案的指示存储在所述存储设备中。