[发明专利]一种用于测量柱塞顶隙槽深度的工装结构

摘要

本发明涉及一种用于测量柱塞顶隙槽深度的工装结构，包括底座，包括互为垂直布置的第一装配单元及测量单元，在底座上，相对于第一装配单元还间隔布置第二装配单元；本发明结构简单、安装方便，利用第一装配单元及第二装配单元有效实现了柱塞的水平定位，通过布置扁位柱实现对柱塞的基准定位，保证了柱塞顶隙槽测量的准确性，调节灵活方便，有效实现了对大批量、不同尺寸柱塞顶隙槽的深度测量。

主权项

一种用于测量柱塞顶隙槽深度的工装结构，包括底座（12），其特征在于：包括互为垂直布置的第一装配单元及测量单元，在所述底座（12）上，相对于第一装配单元还间隔布置第二装配单元；     所述第一装配单元的具体结构如下：     包括阳顶尖座（10），螺套（8）与所述阳顶尖座（10）螺接，阳顶尖衬套（9）的一端伸入所述阳顶尖座（10）并与所述螺套（8）抵接，在所述螺套（8）内装置第二弹簧（7），阳顶尖（11）贯穿所述阳顶尖衬套（9）并与所述第二弹簧（7）连接；      所述测量单元的具体结构如下：      包括表座（5），衬套（2）贯穿装置于所述表座（5），百分表（1）的一端伸入所述衬套（2）并与一端伸入衬套（2）的测量顶尖（4）互为抵接，位于所述百分表（1）伸入衬套（2）的一端还套装第一弹簧（3）；                 所述第二装配单元的具体结构如下：     包括阴顶尖座（23），所述阴顶尖座（23）与压紧螺套（19）螺接，阴顶尖（21）装置于所述阴顶尖座（23）并与贯穿压紧螺套（19）的滚花拉柄（18）的一端相抵接，位于所述阴顶尖座（23）内，于所述阴顶尖（21）的外周还装置阴顶尖衬套（22）。