[发明专利]投影机和控制投影机的方法在审

专利信息
申请号: 201410085886.4 申请日: 2014-03-10
公开(公告)号: CN104052951A 公开(公告)日: 2014-09-17
发明(设计)人: 长谷川史裕 申请(专利权)人: 株式会社理光
主分类号: H04N5/74 分类号: H04N5/74;H04N9/31;G06T3/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 张晓明
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种投影机捕获投影目标的图像,投影图像投影到所述投影目标上,并且所述投影机通过使用捕获的图像校正所述投影图像。所述投影机包括:投影单元,其将所述投影图像投影到所述投影目标上;捕获单元,其捕获包括所述投影目标的投影区域的图像;计算单元,其计算关于所述投影区域的三维数据,并且使用计算的三维数据计算校正参数;以及校正单元,其使用由所述计算单元计算的所述校正参数,校正所述投影图像。所述校正单元使用所述畸变参数,执行对应于所述投影目标的形状的第一校正,并且执行对应于所述投影单元的移动和所述投影目标的移动的至少一个的第二校正。
搜索关键词: 投影机 控制 方法
【主权项】:
一种投影机,其捕获投影目标的图像,投影图像投影到所述投影目标上,并且所述投影机通过使用捕获图像校正所述投影图像,所述投影机包括:投影单元,其将所述投影图像投影到所述投影目标上;捕获单元,其捕获包括所述投影目标的投影区域的图像;计算单元,其计算关于所述投影区域的三维数据,并且使用计算的三维数据计算校正参数;以及校正单元,其使用由所述计算单元计算的所述校正参数,校正所述投影图像,其中所述计算单元基于所述捕获图像,计算畸变参数和移动参数作为所述校正参数,并且所述校正单元使用所述畸变参数,执行对应于所述投影目标的形状的第一校正,并且执行对应于所述投影单元的移动和所述投影目标的移动的至少一个的第二校正。
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