[发明专利]深度检测的取样方法及其光学装置在审
| 申请号： | 201410082861.9 | 申请日： | 2014-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN104898124A | 公开（公告）日： | 2015-09-09 |
| 发明（设计）人： | 林其鸿;雷华德 | 申请（专利权）人： | 光宝科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/06 | 分类号： | G01S17/06 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 宋焰琴 |
| 地址： | 中国台湾台北市*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提出一种深度检测的取样方法及其光学装置。该装置根据一时序信号在扫描面上沿着多条扫描线投射出多个投射点。该方法包括下列步骤：将所述扫描线分为至少二个扫描线群组；决定扫描线群组中的一第一扫描线的多个第一取样点；以及决定扫描线群组中的一第二扫描线的多个第二取样点，其中上述第一取样点与上述第二取样点之间沿着扫描线方向具有一相对位移。 | ||
| 搜索关键词： | 深度 检测 取样 方法 及其 光学 装置 | ||
【主权项】：
一种深度检测的取样方法，应用于包括一光源扫描模块和一光检测模块的一光学装置，该光源扫描模块用以根据一时序信号在一扫描面上沿着多条扫描线投射出多个投射点，该取样方法包括下列步骤：将所述扫描线分为至少二个扫描线群组；决定该扫描线群组中的一第一扫描线的多个第一取样点；以及决定该扫描线群组中的一第二扫描线的多个第二取样点，其中所述第一取样点与所述第二取样点之间沿着扫描线方向具有一相对位移。
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