[发明专利]深度检测的取样方法及其光学装置

权利要求书

1.一种深度检测的取样方法，应用于包括一光源扫描模块和一光检测模块的一光学装置，该光源扫描模块用以根据一时序信号在一扫描面上沿着多条扫描线投射出多个投射点，该取样方法包括下列步骤：

将所述扫描线分为至少二个扫描线群组；

决定该扫描线群组中的一第一扫描线的多个第一取样点；以及

决定该扫描线群组中的一第二扫描线的多个第二取样点，其中所述第一取样点与所述第二取样点之间沿着扫描线方向具有一相对位移。

2.如权利要求1所述的深度检测的取样方法，其特征在于，该光源扫描模块是以二轴扫描方式在该扫描面上进行扫描。

3.如权利要求1所述的深度检测的取样方法，其特征在于，该取样方法包括下列步骤：该光检测模块根据所述取样点进行检测，并得出每个所述取样点对应的一深度值。

4.如权利要求3所述的深度检测的取样方法，其特征在于，该取样方法包括下列步骤：根据所述深度值得出对应该扫描面的一深度值信息，其中该深度值信息包括多条深度信息线，且该深度信息线包括的该深度值的数目等在该扫描线群组中所包括的该取样点的数目。

5.如权利要求1所述的深度检测的取样方法，其特征在于，同条该扫描线上相邻的该取样点之间包括多个该投射点数目。

6.如权利要求1所述的深度检测的取样方法，其特征在于，相同的该扫描线群组中所有的所述取样点之间沿着扫描线方向具有一交错关系。

7.一种具有深度检测的取样功能的光学装置，包括：

一光源扫描模块，用以根据一时序信号在一扫描面上沿着多条扫描线投射出多个投射点；

一控制模块，用以将所述扫描线分为至少二个扫描线群组；决定该扫描线群组中的一第一扫描线的多个第一取样点；以及决定该扫描线群组中的一第二扫描线的多个第二取样点，其中所述第一取样点与所述第二取样点之间沿着扫描线方向具有一相对位移；以及

一光检测模块，用以根据所述取样点进行检测，并得出每个所述取样点对应的一深度值。

8.如权利要求7所述的具有深度检测的取样功能的光学装置，其特征在于，该光源扫描模块包括：

一激光光源，用以产生一检测光束；以及

一扫描元件，用以带动该检测光束以二轴扫描方式在该扫描面上进行扫描。

9.如权利要求7所述的具有深度检测的取样功能的光学装置，其特征在于，该控制模块更用以根据所述深度值得出对应该扫描面的一深度值信息，其中该深度值信息包括多条深度信息线，且该深度信息线包括的该深度值的数目等在该扫描线群组中所包括的该取样点的数目。

10.如权利要求7所述的具有深度检测的取样功能的光学装置，其特征在于，相同的该扫描线群组中所有的所述取样点之间沿着扫描线方向具有一交错关系。