[发明专利]数控机床动态特性衰变的评估方法有效
| 申请号： | 201410077383.2 | 申请日： | 2014-03-04 |
| 公开（公告）号： | CN103802022A | 公开（公告）日： | 2014-05-21 |
| 发明（设计）人： | 朱坚民;李孝茹;张统超;战汉;李付才;齐北川 | 申请（专利权）人： | 上海理工大学 |
| 主分类号： | B24B49/00 | 分类号： | B24B49/00 |
| 代理公司： | 上海德昭知识产权代理有限公司 31204 | 代理人： | 郁旦蓉 |
| 地址： | 200093 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种数控机床动态特性衰变的评估方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一：获得数控机床的一定特征点在初始时间K0时的特征数据序列作为参考特征数据序列X0；步骤二：获得一定特征点在待测时间Ki的特征数据序列作为对比特征数据序列Xi；步骤三：根据X0和Xi，计算得到二者的闵可夫斯基贴近度Ni；以及步骤四：基于Ni的数值对数控机床动态特性衰变进行评估。根据本发明所提供的数控机床动态特性衰变的评估方法，通过Ni能够直观定量的显示了机床数控机床的动态特性衰变程度，是一种简单易行而又准确可靠的评估方法，适合于在工厂车间内推广应用。 | ||
| 搜索关键词： | 数控机床 动态 特性 衰变 评估 方法 | ||
【主权项】：
一种数控机床动态特性衰变的评估方法，其特征在于，包括以下四个步骤：步骤一：获得所述数控机床的一定特征点在初始时间K0时的特征数据序列作为参考特征数据序列X0；步骤二：获得所述一定特征点在待测时间Ki的特征数据序列作为对比特征数据序列Xi；步骤三：根据所述X0和所述Xi，计算得到二者的闵可夫斯基贴近度Ni；以及步骤四：基于所述Ni的数值进行评估，数值越大，则Ki时所述数控机床的动态特性与K0时的动态特性越接近，所述数控机床的动态特性的衰变程度越小，数值越小，则Ki时所述数控机床的动态特性与K0时的动态特性相差越大，所述数控机床动态特性的衰变程度越大。
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