[发明专利]一种电子断层图像序列对位方法在审
| 申请号： | 201410073170.2 | 申请日： | 2014-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN103824294A | 公开（公告）日： | 2014-05-28 |
| 发明（设计）人： | 韩仁敏;张法;储琪 | 申请（专利权）人： | 中国科学院计算技术研究所 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00 |
| 代理公司： | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 | 代理人： | 王勇 |
| 地址： | 100190 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种电子断层图像序列对位方法，包括下列步骤：1）采用能够保留图像仿射变换信息的特征提取算法，从每幅电子断层投影图像中提取特征点；2）对不同电子断层投影图像的特征点进行匹配，获得多幅电子断层投影图像的特征点之间的对应关系；3）基于仿射模型，根据步骤2）所获得的多幅电子断层投影图像的特征点之间的对应关系，估计各电子断层投影图像所对应的对位参数。本发明不依赖胶体金标记，且能够提高对位准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子 断层 图像 序列 对位 方法 | ||
【主权项】：
一种电子断层图像序列对位方法，包括下列步骤：1）从每幅电子断层投影图像中提取特征点，所述特征点能够保留图像仿射变换信息；2）对不同电子断层投影图像的特征点进行匹配，获得多幅电子断层投影图像的特征点之间的对应关系；所述对应关系是对应于同一实际样品特征区块的不同角度电子断层投影图像中的特征点之间的关联关系；3）基于仿射模型，根据步骤2）所获得的多幅电子断层投影图像的特征点之间的对应关系，估计各电子断层投影图像所对应的对位参数。
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