[发明专利]薄膜晶体管阵列的制备方法有效

专利信息
申请号: 201410061345.8 申请日: 2014-02-24
公开(公告)号: CN104867876B 公开(公告)日: 2017-11-14
发明(设计)人: 金元浩;李群庆;范守善 申请(专利权)人: 清华大学;鸿富锦精密工业(深圳)有限公司
主分类号: H01L21/84 分类号: H01L21/84;H01L21/34;H01L21/44
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100084 北京市海淀区清*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种薄膜晶体管阵列的制备方法,其包括以下步骤提供一绝缘基板,在所述绝缘基板的表面设置一栅极;在所述栅极的表面设置一连续的绝缘层;在所述绝缘层的表面设置一碳纳米管层;对所述碳纳米管层进行图案化,以得到多个源极以及多个漏极;以及,提供一含有多个半导体膜碎片的悬浮液,将所述含有多个半导体膜碎片的悬浮液涂覆于所述绝缘层的表面形成包括多个半导体膜碎片的半导体层,相邻的源极和漏极之间存在至少一半导体膜碎片,该至少一半导体膜碎片覆盖部分的该相邻的源极和漏极。
搜索关键词: 薄膜晶体管 阵列 制备 方法
【主权项】:
一种薄膜晶体管阵列的制备方法,其包括以下步骤:提供一绝缘基板,在所述绝缘基板的表面设置一栅极;在所述栅极的表面设置一连续的绝缘层;在所述绝缘层的表面设置一碳纳米管层与所述栅极绝缘设置;对所述碳纳米管层进行图案化,以得到多个源极以及多个漏极;以及提供一含有多个半导体膜碎片的悬浮液,所述悬浮液由半导体膜碎片和一极性溶剂组成,将所述含有多个半导体膜碎片的悬浮液涂覆于所述绝缘层的表面形成包括多个半导体膜碎片的半导体层,相邻的源极和漏极之间存在至少一半导体膜碎片,所述绝缘层位于所述源极与漏极之间的表面被所述多个半导体膜碎片覆盖的面积占所述绝缘层位于所述源极与漏极之间的表面的面积百分数的范围为2%~80%,该至少一半导体膜碎片覆盖至少部分的该相邻的源极和漏极。
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