[发明专利]光检测元件有效
申请号: | 201410017913.4 | 申请日: | 2014-01-15 |
公开(公告)号: | CN103928540B | 公开(公告)日: | 2017-11-14 |
发明(设计)人: | 朴起延;韩昌锡;金华睦;崔孝植;徐大雄 | 申请(专利权)人: | 首尔伟傲世有限公司 |
主分类号: | H01L31/0352 | 分类号: | H01L31/0352;H01L31/108 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司11286 | 代理人: | 刘灿强,刘奕晴 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种光检测元件,该光检测元件根据带通滤波层的能带隙的调节而容易调节所要检测的特定波长区域的范围,并且可通过响应度大小调节层来调节截止(cut‑off)波长的大小,本发明的一实施例提供一种光检测元件,包括基板;带通滤波层,形成于所述基板上;光吸收层,形成于所述带通滤波层上;肖特基层,形成于所述光吸收层上的局部区域;第一电极层,形成于所述肖特基层上的局部区域;以及第二电极层,与所述肖特基层相隔而形成于所述光吸收层上。 | ||
搜索关键词: | 检测 元件 | ||
【主权项】:
一种光检测元件,所述光检测元件包括:基板;带通滤波层,形成于所述基板上;光吸收层,形成于所述带通滤波层上;肖特基层,形成于所述光吸收层上的局部区域;第一电极层,形成于所述肖特基层上的局部区域;第二电极层,与所述肖特基层相隔而形成于所述光吸收层上;以及响应度大小调节层,形成于所述带通滤波层和光吸收层之间,其中,所述响应度大小调节层构成为能带隙随着从所述带通滤波层到所述光吸收层而减小。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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