[发明专利]CT系统金属伪影校正方法有效

专利信息
申请号: 201410007036.2 申请日: 2014-01-08
公开(公告)号: CN103745440B 公开(公告)日: 2017-02-08
发明(设计)人: 周志勇;戴亚康;郑健;李铭;杨晓冬 申请(专利权)人: 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00
代理公司: 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙)44316 代理人: 宋鹰武,沈祖锋
地址: 215163 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供了一种CT系统金属伪影校正方法,根据初始化参数创建所述CT系统的系统矩阵,基于所述系统矩阵计算CT图像重建的过程中的物体衰减系数f,再优化所述物体衰减系数f,实现对CT系统的金属伪影校正。本发明提供的金属伪影校正算法,能够在SART算法的迭代重建过程中,通过逐网格计算衰减系数f的方法,抑制因投影数据跃变和射束硬化引起的金属伪影,提高重建效果。
搜索关键词: ct 系统 金属 校正 方法
【主权项】:
一种CT系统金属伪影校正方法,其特征在于,包括下述步骤:初始化参数,其中,所述参数包括物体的衰减系数f、最大投影角度Θ、重建图像大小Nx×Ny×Nz、扫描物体大小为Lx×Ly×Lz、CT探测器数量D及单个探测单元的大小Ds;创建所述CT系统的系统矩阵θ为投影角度,i是该投影角度下第i条X射线;基于所述系统矩阵计算CT图像重建过程中的物体衰减系数f;优化所述物体衰减系数f;其中,基于所述系统矩阵计算CT图像重建过程中的物体衰减系数f,包括下述步骤:在当前投影角度θt时,读取探测器i探测到的X射线lti透射后的能量,其中,t是投影角度的序号;根据通过探测器探测到的能量计算X射线经过的网格的衰减系数;在所述X射线lti经过的路径上,计算lti穿过所述网格gi,j后的能量,并根据所述能量计算gi,j的衰减系数,其中,计算的公式为其中,Ej+1是射线穿过网格j+1透射后的能量,E0是射线的初始能量,fj’是物体网格gi,j的衰减系数,η是变换系数;所述X射线lti穿过所述网格gi,j后,计算透射后X射线的能量;将穿过网格gi,j的X射线能量作为下一个网格gi,j+1的入射X射线能量,计算所述X射线穿过gi,j+1后的能量和gi,j+1的衰减系数;重复上述步骤,直至X射线完全穿透物体,计算最终透射X射线的能量和X射线路径上最后一个网格的衰减系数。
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