[发明专利]电子电气设备用铜合金、电子电气设备用铜合金薄板、电子电气设备用导电元件及端子在审

专利信息
申请号: 201380074769.1 申请日: 2013-08-29
公开(公告)号: CN105189793A 公开(公告)日: 2015-12-23
发明(设计)人: 牧一诚;森广行;山下大树 申请(专利权)人: 三菱综合材料株式会社;三菱伸铜株式会社
主分类号: C22C9/04 分类号: C22C9/04;C22F1/08;H01B1/02;H01B5/02;H01L23/48;H01L23/50;C22F1/00
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人: 康泉;王珍仙
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种铜合金的耐应力松弛特性可靠且充分优异,并且强度、弯曲加工性优异的电子电气设备用铜合金、使用该电子电气设备用铜合金的电子电气设备用铜合金薄板、电子电气设备用导电元件及端子。本发明的电子电气设备用铜合金含有大于2质量%且小于23质量%的Zn、0.1质量%以上且0.9质量%以下的Sn、0.05质量%以上且小于1.0质量%的Ni、0.001质量%以上且小于0.10质量%的Fe、0.005质量%以上且0.1质量%以下的P,剩余部分由Cu及不可避免的杂质构成,且以原子比计,满足0.002≤Fe/Ni<1.5、3<(Ni+Fe)/P<15、0.3<Sn/(Ni+Fe)<5,并且Σ3、Σ9、Σ27a、Σ27b的各晶界长度之和Lσ相对于晶界总长度L的比率、即特殊晶界长度比率(Lσ/L)为10%以上。
搜索关键词: 电子 电气 备用 铜合金 薄板 导电 元件 端子
【主权项】:
一种电子电气设备用铜合金,其特征在于,所述电子电气设备用铜合金含有大于2质量%且小于23质量%的Zn、0.1质量%以上且0.9质量%以下的Sn、0.05质量%以上且小于1.0质量%的Ni、0.001质量%以上且小于0.10质量%的Fe、0.005质量%以上且0.1质量%以下的P,剩余部分由Cu及不可避免的杂质构成,Fe的含量与Ni的含量之比Fe/Ni以原子比计,满足0.002≤Fe/Ni<1.5,且Ni及Fe的合计含量(Ni+Fe)与P的含量之比(Ni+Fe)/P以原子比计,满足3<(Ni+Fe)/P<15,而且,Sn的含量与Ni及Fe的合计量(Ni+Fe)之比Sn/(Ni+Fe)以原子比计,满足0.3<Sn/(Ni+Fe)<5,并且,通过EBSD法以0.1μm测定间隔的步长测定1000μm2以上的测定面积,并排除通过数据分析软件OIM分析的CI值为0.1以下的测定点而对含有Cu、Zn及Sn的α相进行分析,将相邻的测定点间的方位差大于15°的测定点间作为晶界,且Σ3、Σ9、Σ27a及Σ27b的各晶界长度之和Lσ相对于晶界总长度L的比率、即特殊晶界长度比率Lσ/L为10%以上。
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