[发明专利]镜头装置以及可动光学元件的位置检测方法有效

专利信息
申请号: 201380074251.8 申请日: 2013-11-19
公开(公告)号: CN105008974A 公开(公告)日: 2015-10-28
发明(设计)人: 宫下守 申请(专利权)人: 富士胶片株式会社
主分类号: G02B7/08 分类号: G02B7/08;G01B7/30;G01D5/249;G02B7/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王亚爱
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供能低成本且以简易的构成精度良好地检测可动光学元件的绝对位置的镜头装置以及可动光学元件的位置检测方法。在固定地设置于伴随变焦透镜的移动而围绕光轴旋转的转筒(20)的外周的磁记录标尺(41)上,在旋转方向上设置多个记录部(41b)和记录部(41a)的对。记录部(41b)的宽度窄于记录部(41a)的宽度。在记录部(41a)记录表示磁记录标尺(41)中的位置的代码信息,在记录部(41b)记录用于检测与其相邻的记录部(41a)的磁信号。透镜位置检测部(71)基于在检测到记录于记录部(41b)的磁信号后继续检测到的代码信息来检测变焦透镜的位置。
搜索关键词: 镜头 装置 以及 光学 元件 位置 检测 方法
【主权项】:
一种镜头装置,具有可动光学元件,所述镜头装置具备:旋转构件,其伴随所述可动光学元件的移动而围绕所述可动光学元件的光轴旋转;第一磁记录构件,其是固定地设置于所述旋转构件且沿着所述旋转构件的圆周方向配置的磁记录构件,在所述旋转构件的外周的所述旋转方向的多个位置分别记录有表示所述位置的磁信号即位置磁信号;信号检测部,其配置在与所述第一磁记录构件对置的位置,检测记录于所述第一磁记录构件的磁信号;和位置检测部,其基于由所述信号检测部检测到的磁信号来检测所述可动光学元件的位置,所述位置磁信号由表征n比特的数字代码的在所述旋转方向上被充磁的磁性图案构成,其中n为2以上的自然数,在所述第一磁记录构件中记录1个所述位置磁信号的范围在所述旋转构件的旋转方向上具有第一宽度,在所述第一磁记录构件中,在所述多个位置磁信号各自间与所述位置磁信号相邻地记录用于识别相邻的所述位置磁信号被记录的范围的磁信号即范围识别用磁信号,所述范围识别用磁信号由在所述旋转方向上被充磁的磁性图案构成,记录1个所述范围识别用磁信号的范围在所述旋转方向上具有小于所述第一宽度的第二宽度,所述位置检测部基于在检测到所述范围识别用磁信号后继续检测到的所述位置磁信号来检测所述可动光学元件的位置。
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