[发明专利]成像传感器阵列中的异常时钟频率检测有效
申请号: | 201380072541.9 | 申请日: | 2013-12-12 |
公开(公告)号: | CN104981905B | 公开(公告)日: | 2018-09-25 |
发明(设计)人: | B·西蒙朗;E·A·库尔特;J·古德莱德;M·纳斯迈耶;N·霍根斯特恩;T·R·赫尔特;K·斯特兰德玛;P·布朗热;B·夏普 | 申请(专利权)人: | 菲力尔系统公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;G01J5/20;H04N5/33 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 武晨燕;迟姗 |
地址: | 美国俄*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 提供了检测装置(例如,成像传感器装置(例如,红外和/或可见光成像装置))中的异常时钟频率的技术。在一个例子中,装置可以包括时钟频率检测电路,其可容易地集成为装置的一部分以提供对异常时钟频率的有效检测。装置可以包括斜坡发生器、计数器、和/或其他部件。斜坡发生器可以不依赖于提供给装置的时钟信号产生斜坡信号,而计数器可以响应于所述时钟信号而递增/递减计数值。装置可以包括比较器,其适于当斜坡信号达到参考信号时选择计数器的当前计数值。装置的处理器可适于:基于选择的计数值,确定时钟信号是否以可接受的频率范围操作。 | ||
搜索关键词: | 成像 传感器 阵列 中的 异常 时钟 频率 检测 | ||
【主权项】:
1.一种用于检测时钟信号的频率的装置,其包括:计数器,其用于接收所述时钟信号并响应于所述时钟信号而调整计数值;斜坡发生器,其用于产生具有不依赖于所述时钟信号的斜率的斜坡信号;比较器,其用于接收参考信号和所述斜坡信号,并响应于所述参考信号和所述斜坡信号而选择第一计数值,其中,在第一时间捕获所述第一计数值;用于检测与所述装置相关的温度的温度传感器,其中,所述温度传感器包括:温度敏感元件,其用于提供依赖于温度的模拟信号;以及模数(A/D)转换器,其用于将依赖于温度的模拟信号转换为在第二时间捕获的计数器的第二计数值;以及处理器,其用于:使用第二计数值确定检测到的温度;以及基于所述第一计数值确定所述时钟信号的频率是否基于对于检测到的温度而言所述第一计数值是否处于预定范围内而处于特定范围内。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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