[发明专利]用于光学相干层析成像以及定位元件的系统和方法在审
申请号: | 201380056521.2 | 申请日: | 2013-08-14 |
公开(公告)号: | CN104736045A | 公开(公告)日: | 2015-06-24 |
发明(设计)人: | W.肖雷;R.内博西斯 | 申请(专利权)人: | 爱克发医疗保健公司 |
主分类号: | A61B5/00 | 分类号: | A61B5/00;G01N21/47;G01B9/02;G06K9/32 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 朱君;刘春元 |
地址: | 比利时*** | 国省代码: | 比利时;BE |
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摘要: | 本发明涉及用于光学相干层析成像的系统以及相应的方法,带有:干涉仪和传感器头,通过传感器头可将电磁辐射从干涉仪发送到待检查的对象处并且将由对象反射的电磁辐射引回到干涉仪中;定位元件(3),其用于相对于待检查的对象定位传感器头,定位元件带有支承,其布置在对象处并且传感器头可放置在该支承上;第一区域(4)和第二区域(5),第一区域(4)对于由干涉仪发送的且由对象反射的辐射基本上是可穿透的,第二区域(5)对于由干涉仪发送的和/或由对象反射的辐射的穿透性不同于第一区域(4)的穿透性;图像生成装置,其用于借助由对象和/或定位元件(3)、尤其由定位元件(3)的第二区域(5)反射的电磁辐射生成一幅或多幅图像;显示装置,其用于复现生成的图像;和控制装置,其用于以这种方式控制图像的生成和复现,即,传感器头可借助生成的和复现的图像带到在定位元件(3)上的期望的位置中。通过根据本发明的系统和方法在简单的操纵的情况下实现对象的可靠且省时的检查。 | ||
搜索关键词: | 用于 光学 相干 层析 成像 以及 定位 元件 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种用于光学相干层析成像的系统,带有‑干涉仪(10)和传感器头(57),通过所述传感器头(57)将电磁辐射从干涉仪(10)发送到待检查的对象(1)处并且可将由所述对象(1)反射的电磁辐射引回到所述干涉仪(10)中,‑定位元件(3),其用于相对于所述待检查的对象(1)定位所述传感器头(57),定位元件(3)带有:支承,其布置在所述对象(1)处,并且所述传感器头(57)可放置在所述支承上;和第一区域(4),其对于由所述干涉仪(10)发送的和由所述对象(1)反射的辐射基本上是可穿透的;和第二区域(5),其对于由所述干涉仪(10)发送的和/或由所述对象(1)反射的辐射的穿透性不同于所述第一区域(4)的穿透性,‑图像生成装置(51),其用于借助由所述对象(1)和/或所述定位元件(3),尤其由所述定位元件(3)的第二区域(5)反射的电磁辐射生成一幅或多幅图像(60,61),‑显示装置(52),其用于复现生成的图像(60,61),以及‑控制装置(51),其用于以这种方式控制图像(60,61)的生成和复现,即,所述传感器头(57)可借助生成的和复现的图像(60,61)带到在所述定位元件(3)上的期望的位置中。
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