[发明专利]用于确定通过待检查的对象引起的X射线辐射的衰减的方法和装置有效
| 申请号： | 201380045976.4 | 申请日： | 2013-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN104603606B | 公开（公告）日： | 2018-04-24 |
| 发明（设计）人： | T.汉尼曼;M.莱因万德 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | G01N23/087 | 分类号： | G01N23/087 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人： | 谢强 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的内容是，除了强度之外附加地还引入X射线辐射的谱组成，用于确定由对象(7)引起的衰减。本发明的另一个方面是一种装置，特别是用于X射线或CT系统(1)的辐射监视器(M)，其适合用于执行提到的按照本发明的过程。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 通过 检查 对象 引起 射线 辐射 衰减 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种用于确定X射线辐射通过其穿过待检查的对象的衰减的方法，所述方法包括：确定分别在穿过所述对象之前和之后X射线辐射的强度；确定在穿过所述对象之前X射线辐射的谱组成并且在确定衰减时考虑该谱组成；针对分别相同的能量区域，计算在穿过之后确定的X射线辐射的强度和在穿过之前确定的X射线辐射的强度之间的比例；以及在确定衰减时使用所计算的比例和所确定的谱组成来确定衰减。
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