[发明专利]光生伏打元件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201380043653.1 申请日: 2013-08-27
公开(公告)号: CN104584237B 公开(公告)日: 2017-03-08
发明(设计)人: 绵引达郎;桧座秀一;佐藤刚彦 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: H01L31/0747 分类号: H01L31/0747
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 代理人: 金春实
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在n型硅基板1的第1主面(1A)、侧面(1C)以及第2主面(1B)的周缘部处具备第1非晶硅i层(2)和非晶硅p层(4)。另一方面,在第1主面(1A)和侧面(1C)上具有第1ITO层(6),在第2主面(1B)上具备第2非晶硅i层(3)和非晶硅n层(5),在其上残留周缘部而具有面积比n型硅基板(1)小的第2ITO层(7)。而且,在第2主面(1B)上的周缘部处,具有将第1非晶硅i层(2)、非晶硅p层(4)、第2非晶硅i层(3)、非晶硅n层(5)按该顺序层叠的构造。因而,不需要追加的工艺而能够分离第1ITO层(6)和第2ITO层(7),能够防止泄漏电流。而且,在端部处也确保各个膜的顺序,正常地维持电荷的流动,由此能够发挥集电效果并发挥电池功能,使有效面积最大。
搜索关键词: 光生伏打 元件 及其 制造 方法
【主权项】:
一种光生伏打元件,其特征在于,具备:第1导电类型的半导体基板,具备第1主面、侧面以及第2主面;第2导电类型的半导体层,以覆盖所述半导体基板的所述第1主面的整体并从所述第1主面经过所述侧面覆盖所述第2主面的周缘部的方式形成;第1本征半导体层,介于所述第2导电类型的半导体层与所述半导体基板之间;第1透明导电膜,以与所述第2导电类型的半导体层抵接并从所述第1主面到达所述侧面的方式形成;第1导电类型的半导体层,形成于所述半导体基板的所述第2主面;第2本征半导体层,介于所述第1导电类型的半导体层与所述半导体基板之间;以及第2透明导电膜,在所述半导体基板的所述第2主面侧被设置成抵接到所述第1导电类型的半导体层上,其中,所述第2透明导电膜形成为端部位于比所述半导体基板的所述第2主面的外缘更靠内侧的位置,并且形成为在从所述第2透明导电膜的端部朝向所述第2主面的法线上不与所述第1透明导电膜相交,在所述第2主面上,在位于所述第1透明导电膜的端部与所述第2透明导电膜的端部之间的区域,具备按所述第1本征半导体层、所述第2导电类型的半导体层、所述第2本征半导体层、所述第1导电类型的半导体层的顺序层叠的构造、或按所述第1本征半导体层、所述第2导电类型的半导体层、所述第1导电类型的半导体层的顺序层叠的构造中的至少一方。
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