[发明专利]电子部件用金属材料及其制造方法、使用其的连接器端子、连接器及电子部件

摘要

本发明提供一种具有低晶须性、低粘着磨耗性及高耐久性的电子部件用金属材料、使用其的连接器端子、连接器及电子部件。本发明的电子部件用金属材料具备基材；下层，其形成在基材上且由选自由Ni、Cr、Mn、Fe、Co及Cu所组成的组即A构成元素组中的1种或2种以上所构成；中层，其形成在下层上且由选自由Ag、Au、Pt、Pd、Ru、Rh、Os及Ir所组成的组即B构成元素组中的1种或2种以上所构成；上层，其形成在中层上且由选自由Ag、Au、Pt、Pd、Ru、Rh、Os及Ir所组成的组即B构成元素组中的1种或2种以上、与选自由Sn及In所组成的组即C构成元素组中的1种或2种的合金所构成；及最表层，其形成在上层上且由选自由Sn及In所组成的组即C构成元素组中的1种或2种所构成；并且下层的厚度为0.05 μm以上且低于5.00 μm，中层的厚度为0.01 μm以上且低于0.50 μm，上层的厚度低于0.50 μm，最表层的厚度为0.005 μm以上且低于0.30 μm。

主权项

电子部件用金属材料，其具有低晶须性、低粘着磨耗性及高耐久性，并且具备：基材；下层，其形成在所述基材上且由选自由Ni、Cr、Mn、Fe、Co及Cu所组成的组即A构成元素组中的1种或2种以上所构成；中层，其形成在所述下层上且由选自由Ag、Pt、Pd、Ru、Rh、Os及Ir所组成的组即B构成元素组中的1种或2种以上所构成；上层，其形成在所述中层上且由选自由Ag、Pt、Pd、Ru、Rh、Os及Ir所组成的组即B构成元素组中的1种或2种以上、与选自由Sn及In所组成的组即C构成元素组中的1种或2种的合金所构成；及最表层，其形成在所述上层上且由选自由Sn及In所组成的组即C构成元素组中的1种或2种所构成；并且所述下层的厚度为0.05 μm以上且低于5.00 μm，所述中层的厚度为0.01 μm以上且低于0.50 μm，所述上层的厚度低于0.50 μm，所述最表层的厚度为0.005 μm以上且低于0.30 μm。