[发明专利]测试探针及其加工方法在审
| 申请号： | 201380029823.0 | 申请日： | 2013-05-23 |
| 公开（公告）号： | CN104350387A | 公开（公告）日： | 2015-02-11 |
| 发明（设计）人： | 李彩允 | 申请（专利权）人： | 李诺工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R3/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 唐文静 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种测试探针和一种测试探针的加工方法，测试探针包括接触被测接触点的柱塞端部，所述柱塞端部包括向被测接触点突起的多个尖端，并且所述多个尖端中的至少一个尖端是较高尖端而所述多个尖端中的至少另一个尖端是低于较高尖端的较低尖端。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 探针 及其 加工 方法 | ||
【主权项】：
一种测试探针，包括：柱塞端部，所述柱塞端部接触被测接触点；以及多个尖端，所述尖端提供在所述柱塞端部中并且向被测接触点突起，所述多个尖端中的至少一个尖端是较高尖端，并且所述多个尖端中的至少另一个尖端是低于所述较高尖端的较低尖端。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于李诺工业股份有限公司，未经李诺工业股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201380029823.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
