[发明专利]采用压电层的自旋晶体管以及相关存储器、存储器系统和方法有效
申请号: | 201380024185.3 | 申请日: | 2013-05-09 |
公开(公告)号: | CN104303326B | 公开(公告)日: | 2016-10-19 |
发明(设计)人: | Y·杜 | 申请(专利权)人: | 高通股份有限公司 |
主分类号: | H01L43/00 | 分类号: | H01L43/00 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 林金朝;王英 |
地址: | 美国加*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了自旋晶体管以及相关的存储器、存储器系统和方法。自旋晶体管由具有共享多铁层的至少两个磁性隧道结(MTJ)提供。所述多铁层由具有金属电极(金属)的铁磁薄膜(FM通道)之上的压电(PE)薄膜形成。铁磁层用作自旋通道,并且压电层用于转移压电应力,以控制所述通道的自旋状态。共享层的一侧上的MTJ形成自旋晶体管的源极,并且共享层的另一侧上的MTJ形成自旋晶体管的漏极。 | ||
搜索关键词: | 采用 压电 自旋 晶体管 以及 相关 存储器 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种自旋晶体管,包括:第一磁性隧道结(MTJ),其包括第一铁磁层;第二磁性隧道结(MTJ),其包括第二铁磁层;以及共享自旋层,其包括:电极;压电电介质层;以及铁磁自旋层,其中,所述铁磁自旋层和所述第一铁磁层形成第一磁性结;其中,所述铁磁自旋层和所述第二铁磁层形成第二磁性结;并且其中,所述第一磁性隧道结(MTJ)形成所述自旋晶体管的源极,所述第二磁性隧道结(MTJ)形成所述自旋晶体管的漏极,并且所述电极形成所述自旋晶体管的栅极。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于高通股份有限公司,未经高通股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201380024185.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。