[发明专利]显示装置的检查方法和显示装置的检查装置在审
申请号: | 201380019266.4 | 申请日: | 2013-04-15 |
公开(公告)号: | CN104246468A | 公开(公告)日: | 2014-12-24 |
发明(设计)人: | 西村吉弘 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00;G01N21/956;G02F1/13;G09F9/00;G09G3/20 |
代理公司: | 北京市隆安律师事务所 11323 | 代理人: | 权鲜枝 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 为了能容易地确定缺陷像素的坐标、颜色,在显示装置的检查方法中,在按各颜色的显示像素分别进行高亮度显示的状态下,拍摄各自的显示画面(S101~S103),针对各显示像素求出拍摄元件像素坐标、显示像素坐标以及颜色之间的对应关系(S107),在全部显示像素进行比上述高亮度显示低的亮度的低亮度显示的状态下拍摄显示画面(S104~S106),基于该拍摄图像和上述对应关系求出亮点像素的显示像素坐标和颜色(S109)。 | ||
搜索关键词: | 显示装置 检查 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种显示装置的检查方法,用照相机拍摄具有多种颜色的显示像素的显示装置的显示画面来检测缺陷像素,其特征在于,具有:高亮度显示画面拍摄步骤,在按显示装置中的各颜色的显示像素分别进行高亮度显示的状态下,拍摄各自的显示画面,输出与照相机的拍摄元件中的各像素的检测亮度相应的信号;对应关系决定步骤,基于在上述高亮度显示画面拍摄步骤中拍摄到的拍摄图像,针对各显示像素求出作为来自上述显示像素的光入射的拍摄元件的像素的坐标的拍摄元件像素坐标、作为上述显示像素在显示画面上的坐标的显示像素坐标以及上述显示像素的颜色之间的对应关系;低亮度显示画面拍摄步骤,在全部显示像素进行比上述高亮度显示低的亮度的低亮度显示的状态下拍摄该显示画面;以及亮点像素坐标决定步骤,基于在上述低亮度显示画面拍摄步骤中拍摄到的拍摄图像和上述对应关系求出亮点像素的显示像素坐标和颜色。
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