[实用新型]一种光学延迟测量装置有效

专利信息
申请号: 201320670302.0 申请日: 2013-10-29
公开(公告)号: CN203587229U 公开(公告)日: 2014-05-07
发明(设计)人: 陶世兴;赵新才;杨丽玲;温伟峰;李建中;肖正飞;胡腾;阳庆国;刘宁文;彭其先;李泽仁 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院流体物理研究所
主分类号: G01J9/00 分类号: G01J9/00
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 徐宏;吴彦峰
地址: 621000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 实用新型涉及高精度时间延迟测量技术领域,尤其是涉及一种光学自相关方法测量光学延迟测量装置。本实用新型针对现有技术中存在的问题,提供一种基于光学自相关的精确延迟测量方法,该方法能够测量小于10皮秒时间延迟,最大测量范围则由自相关仪量程决定,测量相对精度优于1%。本实用新型通过脉冲激光器、第一光纤耦合器、延迟线装置、第二光纤耦合器、自相关仪、处理器等配合实现。本实用新型适用于光纤,自由空间光学领域亚纳秒时间延迟的精确测量。
搜索关键词: 一种 光学 延迟 测量 装置
【主权项】:
一种光学延迟测量装置,其特征在于包括:脉冲激光器、第一光纤耦合器、延迟线装置、第二光纤耦合器、自相关仪、处理器,所述脉冲激光器输出端与第一光纤耦合器输入端连接,第一光纤耦合器第一输出端口与第二光纤耦合器第一输入端口连接,第一光纤耦合器其余输出端口通过延迟线装置与第二光纤耦合器其余输入端口连接,第二光纤耦合器输出端口通过光纤连接自相关仪,且延迟线装置分别与处理器控制端口连接。
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