[发明专利]用于对均匀照射物品成像的装置有效
申请号: | 201310753599.1 | 申请日: | 2013-10-10 |
公开(公告)号: | CN103728717B | 公开(公告)日: | 2017-06-30 |
发明(设计)人: | J·W·艾和;D·M·唐;S·K·H·王;H·L·洛特;S·K·麦克劳林;M·纳西柔;F·扎瓦利彻 | 申请(专利权)人: | 希捷科技有限公司 |
主分类号: | G02B17/08 | 分类号: | G02B17/08;G03B21/28 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司31100 | 代理人: | 高见 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 描述了一种用于对均匀照射物品成像的装置。这里提供一种装置,包括配置为将光子反射到物品的表面的反射表面,配置用于支承物品的平台,以及组件。某些实施例中,组件配置用于发射光子通过物品到达反射表面。组件进一步配置为采用光子的辐照对物品成像。 | ||
搜索关键词: | 用于 均匀 照射 物品 成像 装置 | ||
【主权项】:
一种用于对均匀照射物品成像的装置,包括:光子发射器,配置用于发射光子;透镜;反射表面;平台,配置用于支承物品,其中所述平台被定位在所述透镜和所述反射表面之间,所述透镜配置用于接收来自所述光子发射器的光子并且进一步配置用于向所述反射表面直接投射光子,以及所述反射表面配置用于接收来自所述透镜的所述光子并且以均匀的光子辐照度将光子反射到所述物品的表面上;以及相机,配置用于利用光子辐照对所述物品的表面成像,其中所述透镜配置用于通过随着跨所述物品的所述表面从初始位置至所述物品的所述表面的最终位置投射光子而单调增加光子通量来重新分配光子通量,从所述反射表面至所述最终位置的距离大于从所述反射表面至所述初始位置的距离。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于希捷科技有限公司,未经希捷科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310753599.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。