[发明专利]测量4管像素单元CMOS图像传感器钉扎电压的方法在审

专利信息
申请号: 201310746939.8 申请日: 2013-12-30
公开(公告)号: CN103698582A 公开(公告)日: 2014-04-02
发明(设计)人: 谈佳明 申请(专利权)人: 上海集成电路研发中心有限公司
主分类号: G01R19/00 分类号: G01R19/00
代理公司: 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 代理人: 吴世华;林彦之
地址: 201210 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种像素单元的钉扎光电管的钉扎电压的测量方法,包括:将复位晶体管的漏极电压连接至电源电压,同时打开传输晶体管及复位晶体管,以清空钉扎光电管中的电荷;保持传输晶体管及复位晶体管同时打开的状态下,将复位晶体管的漏极电压连接至一控制电压,将一定量的电荷引入光电管中;之后关闭传输晶体管和复位晶体管;保持钉扎光电管的电荷量不变,将复位晶体管的漏极电压连接至电源电压,依次打开复位晶体管和传输晶体管,读出像素单元的输出电压;重复上述步骤,获得控制电压与像素单元的输出电压的关系曲线,根据所述关系曲线确定钉扎光电管的钉扎电压。本发明能够方便、高效、准确地测量4管像素单元的CMOS图像传感器的钉扎电压值。
搜索关键词: 测量 像素 单元 cmos 图像传感器 电压 方法
【主权项】:
一种4管像素单元CMOS图像传感器钉扎电压的测量方法,所述4管像素单元包括所述钉扎光电管,传输晶体管,悬浮点,复位晶体管,源跟随器和选通管,所述测量方法包括:步骤S1:将所述复位晶体管的漏极电压连接至供电电压,同时打开所述传输晶体管及所述复位晶体管,以清空所述钉扎光电管中的电荷;步骤S2:保持所述传输晶体管及所述复位晶体管同时打开的状态下,将所述复位晶体管的漏极电压连接至一控制电压,将一定量的电荷从所述悬浮点引入所述钉扎光电管中;之后关闭所述传输晶体管和所述复位晶体管;步骤S3:保持所述钉扎光电管的电荷量不变,将所述复位晶体管的漏极电压连接至所述供电电压,依次打开所述复位晶体管和所述传输晶体管,读出像素单元的输出电压;重复进行步骤S1至步骤S3,获得所述控制电压与所述像素单元的输出电压的关系曲线,根据所述关系曲线确定所述钉扎光电管的钉扎电压。
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