[发明专利]版图上IO间ESD电阻的检查方法在审

专利信息
申请号: 201310726962.0 申请日: 2013-12-25
公开(公告)号: CN104749437A 公开(公告)日: 2015-07-01
发明(设计)人: 李彦正;周京英;邓樟鹏 申请(专利权)人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司31211 代理人: 丁纪铁
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明公开了一种版图上IO间ESD电阻的检查方法,包含的步骤为找出需要检测ESD电阻的IO区域的待测IO端口打上测试标识;区分出电源IO及信号IO,仅对信号IO做ESD检测;设定两个信号IO之间的最大ESD电阻值;找出两个待测信号IO间所有接电源和接地金属走线的电阻;对不同金属层次的方块电阻进行计算并归一化处理;计算找出某一待测信号IO与其他信号IO间所有接电源或者接地的走线金属,计算出每条金属走线所对应的电阻;将两个IO间所有的对应阻值计算出来,进行统计;找出其中的最小电阻值;根据最小电阻值及电阻并联规则运算出总的电阻值;将计算出的一个测设IO的电阻值与其他IO间的电阻使用冒泡法进行排序和比较;对于所有IO间ESD电阻列表进行描述。
搜索关键词: 版图 io esd 电阻 检查 方法
【主权项】:
一种版图上IO间ESD电阻的检查方法,其特征在于:包含如下几个步骤:第一步,找出需要检测ESD电阻的IO区域,对所有需要封装引出的IO口打上测试标识,将电源类IO与信号IO进行区分,设定两个IO之间的最大ESD阻值;第二步,找出A、B两个IO间所有接电源及接地金属走线的电阻;第三步,对上述A、B两个IO间所有的金属电阻进行计算并统计,根据电阻并联阻值运算法则,设定电阻过滤,运算出最终总的电阻值;第四步,再将A待测IO与其他所有IO间运算的电阻值都列出,并使用冒泡法进行排序,再采用递归法与第一步中设定的最大ESD阻值进行比较,找出所有不超过设定最大ESD阻值的电阻值,将大于设定最大ESD阻值的电阻值整理出来;第五步,重复以上步骤,将所有待测IO间ESD电阻计算出来,进行列表描述。
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